一种芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420805600.0

申请日：

2014-12-18

公开(公告)号：

CN204287409U

公开(公告)日：

2015-04-22

发明(设计)人：

陈佳英

申请人：

申请人地址：

401220 重庆市长寿区凤城向阳路16号13-3

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217

代理人：

王明书

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-22	授权	授权
2017-02-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101702110320 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2014208056000 申请日:20141218 授权公告日:20150422 终止日期:20151218

共 50 条

[1]

一种芯片测试装置 [P].

陈佳英 .

中国专利 :CN104502830A ,2015-04-08

[2]

一种芯片测试装置 [P].

王兰松 ;

范启俊 .

中国专利 :CN223413426U ,2025-10-03

[3]

一种芯片测试装置 [P].

刘晨 .

中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08

[4]

一种芯片测试装置 [P].

陈兵录 .

中国专利 :CN209486249U ,2019-10-11

[5]

一种芯片测试装置 [P].

向奕 ;

吴静 ;

吴利 ;

王萌 .

中国专利 :CN217360174U ,2022-09-02

[6]

一种芯片测试装置 [P].

李克贵 ;

何建军 ;

杨飞瑶 .

中国专利 :CN222762201U ,2025-04-15

[7]

一种芯片测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16

[8]

一种芯片测试装置 [P].

李尚成 ;

高安明 ;

姜伟 .

中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15

[9]

一种芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

张彤 .

中国专利 :CN212514903U ,2021-02-09

[10]

一种芯片测试装置 [P].

张治强 ;

卢冠华 ;

陈宝纯 .

中国专利 :CN221124793U ,2024-06-11

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