微孔膜孔隙率测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210166897.6
申请日
2012-05-28
公开(公告)号
CN103454197A
公开(公告)日
2013-12-18
发明(设计)人
刘永辉 吴振东 于伟翔 江历阳 林雯
申请人
申请人地址
102413 北京市房山区275信箱65分箱
IPC主分类号
G01N1508
IPC分类号
G01N2302
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
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