芯片检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821337023.1

申请日：

2018-08-20

公开(公告)号：

CN209296872U

公开(公告)日：

2019-08-23

发明(设计)人：

钟党新

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区新田社区沙博工业区17号一楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180820 授权公告日:20190823 终止日期:20200820
2019-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种LED封装芯片检测装置 [P].

谢安全 ;

张池 .

中国专利 :CN221465687U ,2024-08-02

[2]

半导体芯片检测装置 [P].

钟党新 .

中国专利 :CN209296871U ,2019-08-23

[3]

一种芯片检测装置 [P].

郑澎 ;

罗旺宝 ;

郑曙涛 ;

莫树任 .

中国专利 :CN212275892U ,2021-01-01

[4]

一种电子芯片检测装置 [P].

曹满囤 .

中国专利 :CN210534274U ,2020-05-15

[5]

电子芯片检测装置 [P].

余斌 ;

邱望洪 ;

蔡景鸿 .

中国专利 :CN208969202U ,2019-06-11

[6]

一种纸质芯片用检测装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN214150754U ,2021-09-07

[7]

一种芯片封装引脚检测装置 [P].

刘聪 ;

刘炫 .

中国专利 :CN220584340U ,2024-03-12

[8]

一种AI芯片试验检测装置 [P].

刘海斌 .

中国专利 :CN218240122U ,2023-01-06

[9]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[10]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

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