工业产品的外观缺陷检测方法、装置及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011560774.1

申请日：

2020-12-25

公开(公告)号：

CN112581462A

公开(公告)日：

2021-03-30

发明(设计)人：

刘刚李雷远何沐宸钱程远白山于雯婷朱朋飞

申请人：

申请人地址：

100876 北京市海淀区西土城路10号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T710 G06N304 G06N308

代理机构：

北京万思博知识产权代理有限公司 11694

代理人：

刘冀

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201225
2021-03-30	公开	公开

共 50 条

[1]

工业产品外观缺陷检测方法和装置 [P].

郭骏 ;

潘少云 ;

侯大为 ;

倪文渊 .

中国专利 :CN113781483B ,2021-12-10

[2]

工业产品外观缺陷检测方法和装置 [P].

郭骏 ;

潘正颐 ;

侯大为 .

中国专利 :CN113689431A ,2021-11-23

[3]

工业产品的缺陷检测方法及其装置、电子设备及存储介质 [P].

吴亚晖 ;

王昶力 ;

黄世永 ;

谈钱辉 ;

李生辉 .

中国专利 :CN117994232A ,2024-05-07

[4]

产品外观缺陷检测方法、装置及存储介质 [P].

钟石明 ;

李海龙 ;

王艳强 ;

潘玲 .

中国专利 :CN113744274B ,2021-12-03

[5]

工业产品缺陷检测方法和装置 [P].

杭天欣 ;

马元巍 ;

潘正颐 ;

侯大为 ;

倪文渊 .

中国专利 :CN113780484B ,2021-12-10

[6]

工业产品的瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

徐兵荣 ;

陆音 ;

陈子阳 ;

蔡奕杰 ;

许旻昱 .

中国专利 :CN117893490A ,2024-04-16

[7]

工业产品缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

王少成 .

中国专利 :CN120374482A ,2025-07-25

[8]

工业产品的缺陷检测方法、系统、介质及设备 [P].

周川江 ;

赵何 ;

张志琦 .

中国专利 :CN115392802A ,2022-11-25

[9]

工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴雨培 ;

王少成 .

中国专利 :CN117474904A ,2024-01-30

[10]

工业缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴雨培 ;

王少成 .

中国专利 :CN117474904B ,2024-03-12

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