学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

复位电路验证方法、装置、电子设备及介质

被引：0
申请号：
CN202111642589.1
申请日：
2021-12-29
公开(公告)号：
CN114297964A
公开(公告)日：
2022-04-08
发明(设计)人：
张志文
申请人：
申请人地址：
100086 北京市海淀区上地十街10号百度大厦
IPC主分类号：
G06F3033
IPC分类号：
G06F11508
代理机构：
北京市汉坤律师事务所 11602
代理人：
姜浩然;吴丽丽
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-08 公开 公开
共 50 条
[1]
滑块验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
梁自升 ;
赵悦 .
中国专利 :CN118094514A ,2024-05-28
[2]
灰度验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
文严 ;
裴雁峰 ;
王发修 ;
高斌 ;
徐志华 .
中国专利 :CN117874745A ,2024-04-12
[3]
模型验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
靳杰 ;
马文欣 ;
黄强 ;
邝国涛 ;
王子晗 .
中国专利 :CN118409886A ,2024-07-30
[4]
信息验证方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
司玄 .
中国专利 :CN115455392B ,2024-08-06
[5]
信息验证方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
司玄 .
中国专利 :CN115455392A ,2022-12-09
[6]
权限验证方法、装置、电子设备、介质及产品 [P]. 
赖富迪 ;
何铠锋 ;
刘平涛 ;
江魁栋 ;
何中柱 .
中国专利 :CN121211433A ,2025-12-26
[7]
复位电路、复位装置及电子设备 [P]. 
周济运 ;
沈聪 ;
王丽 .
中国专利 :CN217063689U ,2022-07-26
[8]
纠缠测量设备验证方法及装置、电子设备和介质 [P]. 
王琨 .
中国专利 :CN115759276B ,2024-07-12
[9]
贝尔测量设备验证方法及装置、电子设备和介质 [P]. 
王琨 .
中国专利 :CN115719098B ,2024-07-12
[10]
验证信息发送方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
邵玉龙 .
中国专利 :CN118890216A ,2024-11-01
12345