集成电路温度检测电路及其校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910057769.6

申请日：

2009-08-20

公开(公告)号：

CN101995301A

公开(公告)日：

2011-03-30

发明(设计)人：

唐成伟王梓

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

G01K716

IPC分类号：

G01K1500

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

王江富

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-30	公开	公开
2014-01-15	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101685693261 IPC(主分类):G01K 7/16 专利号:ZL2009100577696 变更事项:专利权人变更前权利人:上海华虹NEC电子有限公司变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区川桥路1188号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号登记生效日:20131219
2011-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101071491014 IPC(主分类):G01K 7/16 专利申请号:2009100577696 申请日:20090820
2012-08-01	授权	授权

共 50 条

[1]

高压集成电路及其温度检测电路 [P].

吴飞权 ;

刘杰 .

中国专利 :CN111521285A ,2020-08-11

[2]

高压集成电路及其温度检测电路 [P].

吴飞权 ;

刘杰 .

中国专利 :CN111538365A ,2020-08-14

[3]

温度检测电路及集成电路 [P].

丁永强 ;

刘杰 .

中国专利 :CN111521284A ,2020-08-11

[4]

用于亚微米级集成电路的温度检测电路 [P].

谢希 .

中国专利 :CN202229851U ,2012-05-23

[5]

包括温度检测电路的集成电路小片及其校准系统和方法 [P].

梅利亚·F·戈登 ;

查尔斯·R·约翰斯 ;

木原广己 ;

泷口严 ;

田村哲司 ;

迈克尔·F·王 ;

矢泽和明 ;

吉田宗博 .

中国专利 :CN1815737A ,2006-08-09

[6]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

[7]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

:CN115308467B ,2025-12-23

[8]

用于电流检测的集成电路、电流检测电路及其校准方法 [P].

泽维尔·特鲁尔斯·福图尼 .

中国专利 :CN113655265B ,2025-10-24

[9]

用于电流检测的集成电路、电流检测电路及其校准方法 [P].

泽维尔·特鲁尔斯·福图尼 .

中国专利 :CN113655265A ,2021-11-16

[10]

用于集成电路芯片温度保护的电流检测电路 [P].

郭虎 ;

徐婷婷 ;

王照新 ;

李建伟 .

中国专利 :CN213149072U ,2021-05-07

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