一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111232412.4

申请日：

2021-10-22

公开(公告)号：

CN113866584A

公开(公告)日：

2021-12-31

发明(设计)人：

孙玉唐德平金浪

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124

代理人：

朱文振

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-16	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/26 变更事项:申请人变更前:合肥科威尔电源系统股份有限公司变更后:科威尔技术股份有限公司变更事项:地址变更前:230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号变更后:230088 安徽省合肥市高新区大龙山路8号
2022-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20211022
2021-12-31	公开	公开

共 50 条

[1]

一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法 [P].

孙玉 ;

唐德平 ;

金浪 .

中国专利 :CN113866584B ,2025-06-24

[2]

一种功率半导体器件功率循环测试电路 [P].

孙玉 ;

唐德平 ;

金浪 .

中国专利 :CN216117881U ,2022-03-22

[3]

功率半导体器件功率循环测试系统 [P].

任永硕 ;

王荣华 ;

熊华燕 ;

梁辉南 ;

高珺 .

中国专利 :CN109814020A ,2019-05-28

[4]

功率半导体器件功率循环测试系统 [P].

任永硕 ;

王荣华 ;

熊华燕 ;

梁辉南 ;

高珺 .

中国专利 :CN109814020B ,2024-11-01

[5]

功率半导体器件功率循环测试系统 [P].

任永硕 ;

王荣华 ;

熊华燕 ;

梁辉南 ;

高珺 .

中国专利 :CN209746082U ,2019-12-06

[6]

一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统 [P].

王浩然 ;

王鼎奕 ;

刘雷 ;

王圣明 .

中国专利 :CN113253085A ,2021-08-13

[7]

一种SiC功率半导体器件的功率循环测试电路及方法 [P].

贾娜 ;

高占学 ;

朱小毅 ;

王亮 ;

胡学龙 ;

宋烨 ;

王勉 ;

冯起 ;

周兴达 ;

姚路锦 .

中国专利 :CN120993159A ,2025-11-21

[8]

提高测试效率的半导体器件功率循环测试电路 [P].

廉星杰 ;

李文江 ;

张文亮 .

中国专利 :CN217085176U ,2022-07-29

[9]

一种功率半导体器件的功率循环测试系统及方法 [P].

王浩然 ;

王圣明 ;

周法杰 ;

王鼎奕 .

中国专利 :CN111537860B ,2020-08-14

[10]

一种功率半导体器件测试电路 [P].

颜荨 ;

廖光朝 ;

张小兵 ;

胡绍国 .

中国专利 :CN223155141U ,2025-07-25

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