一种大量程真空准直激光测量系统及其位移测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110044408.5

申请日：

2011-02-24

公开(公告)号：

CN102175164B

公开(公告)日：

2011-09-07

发明(设计)人：

乐开端闫昕黎玮

申请人：

申请人地址：

710049 陕西省西安市咸宁西路28号

IPC主分类号：

G01B1103

IPC分类号：

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司 61200

代理人：

陆万寿

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-09-07	公开	公开
2011-11-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101131517314 IPC(主分类):G01B 11/03 专利申请号:2011100444085 申请日:20110224
2015-10-14	专利实施许可合同备案的生效、变更及注销	专利实施许可合同备案的生效号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101721121446 IPC(主分类):G01B 11/03 专利申请号:2011100444085 专利号:ZL2011100444085 合同备案号:2015610000086 让与人:西安交通大学\|西安华腾光电有限责任公司受让人:西安华腾光电有限责任公司发明名称:一种大量程真空准直激光测量系统及其位移测量方法申请日:20110224 申请公布日:20110907 授权公告日:20120905 许可种类:独占许可备案日期:20150821
2012-09-05	授权	授权

共 50 条

[1]

高精度大量程激光位移测量装置 [P].

林澎 ;

孙荣敏 ;

杨灵敏 ;

于瑛 ;

傅胜华 ;

黄艳 ;

韦家见 ;

张禹 ;

潘俊 ;

卢灿 .

中国专利 :CN205383991U ,2016-07-13

[2]

一种大量程聚焦式激光点位移测量系统 [P].

张效栋 ;

武光创 ;

朱琳琳 ;

房丰洲 .

中国专利 :CN110108227A ,2019-08-09

[3]

一种准直激光二维位移测量系统 [P].

孙建华 ;

袁科 .

中国专利 :CN202339188U ,2012-07-18

[4]

大量程滑移面位移监测装置及其测量方法 [P].

朱正伟 ;

易兴 ;

朱耘萱 ;

徐嘉 .

中国专利 :CN111811410B ,2020-10-23

[5]

位移测量系统及其测量方法 [P].

江晓军 ;

刘正国 ;

汪志锋 .

中国专利 :CN101545767A ,2009-09-30

[6]

一种激光准直设备的坡度测量系统及其测量方法 [P].

毛明领 ;

郭诗威 .

中国专利 :CN107449446A ,2017-12-08

[7]

大量程无接触光学间距测量系统及其测量方法 [P].

史国华 ;

樊金宇 ;

邢利娜 ;

潘道伟 ;

高峰 .

中国专利 :CN109975246B ,2019-07-05

[8]

二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置 [P].

朱永 ;

陈伟民 ;

符欲梅 .

中国专利 :CN1651855A ,2005-08-10

[9]

准直激光二维位移测量系统及利用该系统测量导轨的方法 [P].

孙建华 ;

袁科 .

中国专利 :CN102506724A ,2012-06-20

[10]

一种激光准直设备的平面度测量系统及其测量方法 [P].

郭诗威 ;

陈永强 .

中国专利 :CN107436131A ,2017-12-05

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