一种晶片电阻率检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721686210.6

申请日：

2017-12-07

公开(公告)号：

CN207457349U

公开(公告)日：

2018-06-05

发明(设计)人：

孔凡伟段花山黄超阳

申请人：

申请人地址：

273100 山东省济宁市曲阜市春秋东路166号

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙) 37254

代理人：

徐国印

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-05	授权	授权
2018-08-03	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 27/02 变更事项:专利权人变更前:山东晶导微电子有限公司变更后:山东晶导微电子股份有限公司变更事项:地址变更前:273100 山东省济宁市曲阜市春秋东路166号变更后:273100 山东省济宁市曲阜市春秋东路166号

共 50 条

[1]

电阻率检测装置 [P].

李付锦 ;

金城 ;

赵迎春 ;

熊敏 .

中国专利 :CN223471095U ,2025-10-24

[2]

硅晶片电阻率测量装置 [P].

沈宇平 .

中国专利 :CN203455409U ,2014-02-26

[3]

一种硅电阻率检测装置 [P].

蒋旭辉 .

中国专利 :CN222965317U ,2025-06-10

[4]

一种石墨电极电阻率检测装置 [P].

孔丽珍 .

中国专利 :CN201926711U ,2011-08-10

[5]

一种石墨电极电阻率检测装置 [P].

赵帅 .

中国专利 :CN210639223U ,2020-05-29

[6]

金属导线电阻率检测装置 [P].

何如森 ;

严爱军 ;

王毅 .

中国专利 :CN204405738U ,2015-06-17

[7]

一种镍粉电阻率检测装置 [P].

王建军 ;

徐培林 ;

王岩 ;

周英福 ;

张延 ;

李翔玲 .

中国专利 :CN223192866U ,2025-08-05

[8]

一种简易式电阻率检测装置 [P].

赵俊一 ;

郝红涛 ;

李跃午 ;

张亮 .

中国专利 :CN206523561U ,2017-09-26

[9]

一种晶片电阻率多点测量分选装置 [P].

田浩 ;

张久武 ;

王玲云 ;

刘礼明 ;

王红叶 ;

宋长旭 ;

刘鹏程 ;

王崇山 ;

东士博 ;

张碧波 ;

李文磊 ;

董旭 .

中国专利 :CN223209974U ,2025-08-12

[10]

检测电阻率的装置 [P].

曹艳 ;

李广宁 .

中国专利 :CN203444014U ,2014-02-19

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