光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480052569.0

申请日：

2014-09-26

公开(公告)号：

CN105578968B

公开(公告)日：

2016-05-11

发明(设计)人：

石井稔浩高桥阳一郎菅原悟下川丈明山下宙人佐藤雅昭

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

A61B1000

IPC分类号：

A61B51455

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

安之斐

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101663897650 IPC(主分类):A61B 10/00 专利申请号:2014800525690 申请日:20140926
2019-03-15	授权	授权
2022-09-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 10/00 申请日:20140926 授权公告日:20190315 终止日期:20210926
2016-05-11	公开	公开

共 50 条

[1]

光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法 [P].

石井稔浩 ;

高桥阳一郎 .

中国专利 :CN106999165A ,2017-08-01

[2]

光学传感器以及光学传感器的异常检测方法 [P].

蓬郷典大 ;

近藤智则 ;

古川慎也 .

中国专利 :CN109579705A ,2019-04-05

[3]

光学传感器以及光学传感器制造方法 [P].

廖顺兴 .

中国专利 :CN115113217A ,2022-09-27

[4]

光学传感器以及光学传感器制造方法 [P].

廖顺兴 .

中国专利 :CN115079191A ,2022-09-20

[5]

光学传感器芯片、光学传感器系统以及测定方法 [P].

藤江彰裕 ;

大塚浩志 ;

马场昌之 ;

安藤俊行 ;

尾野仁深 ;

竹本裕太 .

日本专利 :CN119032264A ,2024-11-26

[6]

光学传感器及光学传感器的制造方法 [P].

竹内均 ;

木村纪幸 ;

野口康次 .

中国专利 :CN102738250B ,2012-10-17

[7]

光学传感器测试设备压紧模组 [P].

曾石根 ;

劳家骅 ;

曹祥 .

中国专利 :CN212410718U ,2021-01-26

[8]

光学传感器测试设备扫描模组 [P].

曾石根 ;

劳家骅 ;

曹祥 .

中国专利 :CN211506508U ,2020-09-15

[9]

光学传感器以及图像形成设备 [P].

大场义浩 ;

菅原悟 ;

石井稔浩 ;

星文和 .

中国专利 :CN103221803A ,2013-07-24

[10]

光学传感器及光学传感方法 [P].

克里斯蒂安·布伦德利 ;

拉斐尔·伯纳 .

:CN113812142B ,2024-10-15

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