内存读写测试方法、装置以及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010552743.5
申请日
2020-06-17
公开(公告)号
CN113806149A
公开(公告)日
2021-12-17
发明(设计)人
郑文武 李先绪 邱红飞 黄植勤 黄春光 朱海云 王海霞
申请人
申请人地址
100033 北京市西城区金融大街31号
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
方亮
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
内存读写测试方法、装置以及存储介质 [P]. 
郑文武 ;
李先绪 ;
邱红飞 ;
黄植勤 ;
黄春光 ;
朱海云 ;
王海霞 .
中国专利 :CN113806149B ,2024-01-26
[2]
内存监测方法、装置、设备以及存储介质 [P]. 
杨成旭 .
中国专利 :CN114691452A ,2022-07-01
[3]
测试方法、装置、设备以及存储介质 [P]. 
仇璐 ;
卞梦娇 ;
赵威 .
中国专利 :CN114625641A ,2022-06-14
[4]
接口测试方法、装置、设备以及存储介质 [P]. 
李鸿斌 .
中国专利 :CN114706774A ,2022-07-05
[5]
性能测试方法、装置、设备以及存储介质 [P]. 
吴亚鹏 .
中国专利 :CN121187951A ,2025-12-23
[6]
自动化内存测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
鞠凯 ;
尹青建 .
中国专利 :CN115344438A ,2022-11-15
[7]
内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112988484A ,2021-06-18
[8]
测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
吴玉培 .
中国专利 :CN113592305B ,2024-08-13
[9]
用于测试的方法、装置、设备以及存储介质 [P]. 
肖超超 .
中国专利 :CN113515462A ,2021-10-19
[10]
测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
吴玉培 .
中国专利 :CN113592305A ,2021-11-02