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测试系统及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201010169193.5
申请日：
2010-04-27
公开(公告)号：
CN102236069A
公开(公告)日：
2011-11-09
发明(设计)人：
吴庆阳
李广波
李晓阳
刘凌
申请人：
申请人地址：
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R2702
G01R2302
G01R2728
G01R2706
G01R2500
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
骆苏华
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2011-11-09 | 公开 | 公开 |
| 2014-01-08 | 授权 | 授权 |
| 2012-12-12 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利申请权的转移 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101482945997 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2010101691935 变更事项:申请人 变更前权利人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 变更后权利人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:201203 上海市浦东新区张江路18号 变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江路18号 变更事项:申请人 变更前权利人:无 变更后权利人:中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 登记生效日:20121108 |
| 2011-12-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101158509830 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2010101691935 申请日:20100427 |