光器件破坏性测试固定机构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821868017.9
申请日
2018-11-13
公开(公告)号
CN209043576U
公开(公告)日
2019-06-28
发明(设计)人
马小立 朱大利 黄文伟 司马卫武
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业东路12号光韵达厂房二栋5楼
IPC主分类号
G01M1108
IPC分类号
G01N308
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
张艳美;金宏望
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
破坏性测试机 [P]. 
周佳 ;
宋圣辉 ;
何宗珊 .
中国专利 :CN217901396U ,2022-11-25
[2]
工装破坏性测试装置 [P]. 
陶宪龙 ;
王双宁 ;
赵成睿 .
中国专利 :CN213632602U ,2021-07-06
[3]
破坏性测试方法及装置 [P]. 
廖鹏 .
中国专利 :CN111679979A ,2020-09-18
[4]
一种座椅破坏性冲击测试装置 [P]. 
沈国梁 .
中国专利 :CN204330269U ,2015-05-13
[5]
充电电池破坏性测试防护箱 [P]. 
高德峰 ;
牛彦鹏 ;
陈帮军 .
中国专利 :CN204832271U ,2015-12-02
[6]
破坏性实验箱 [P]. 
牟鹏宇 ;
牟露屹 ;
刘敬 .
中国专利 :CN216433792U ,2022-05-03
[7]
破坏性检查机 [P]. 
胡楚维 .
中国专利 :CN208366720U ,2019-01-11
[8]
破坏性防伪瓶盖 [P]. 
王松林 ;
徐洪光 ;
林敏捷 .
中国专利 :CN2375576Y ,2000-04-26
[9]
破坏性防伪容器 [P]. 
贺峥 .
中国专利 :CN2238213Y ,1996-10-23
[10]
破坏性防伪瓶盖 [P]. 
冯科让 .
中国专利 :CN2382677Y ,2000-06-14