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一种高精密元器件功能测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120653224.8
申请日：
2021-03-31
公开(公告)号：
CN215641541U
公开(公告)日：
2022-01-25
发明(设计)人：
陈增
陈耀平
李平
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市昆山市周市镇陆杨华杨路1099号2号房
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-25 | 授权 | 授权 |