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自动测量系统
被引:0
申请号
:
CN202123390050.X
申请日
:
2021-12-30
公开(公告)号
:
CN216523669U
公开(公告)日
:
2022-05-13
发明(设计)人
:
潘伟华
刘文斌
吴诚诚
王亮
申请人
:
申请人地址
:
510006 广东省广州市番禺区石楼镇珠江路80号厂房三楼
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
代理机构
:
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
:
张金铭
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-13
授权
授权
共 50 条
[1]
自动测量装置以及自动测量系统
[P].
山地政吏
论文数:
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
山地政吏
;
盛本秀之
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
盛本秀之
;
空田寿磨
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机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
空田寿磨
.
日本专利
:CN113739731B
,2025-08-12
[2]
自动测量装置、自动测量系统以及测量自动化装置
[P].
山地政吏
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山地政吏
;
盛本秀之
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盛本秀之
;
空田寿磨
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空田寿磨
.
中国专利
:CN113739731A
,2021-12-03
[3]
自动测量装置及测量系统
[P].
郭天圣
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郭天圣
;
坎杂
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坎杂
;
蒙贺伟
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蒙贺伟
;
李成松
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李成松
;
王梦
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王梦
;
李洋
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李洋
;
赵紫薇
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赵紫薇
.
中国专利
:CN204129054U
,2015-01-28
[4]
玻璃自动测量系统
[P].
刘陶云
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刘陶云
;
陈新航
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陈新航
;
秦德俊
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秦德俊
;
吴云兴
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吴云兴
.
中国专利
:CN215491549U
,2022-01-11
[5]
水温自动测量系统
[P].
于粟
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于粟
;
陈守峰
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陈守峰
;
王千
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王千
;
王湛
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王湛
;
李明
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李明
;
黄琢
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黄琢
;
李耀军
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李耀军
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张幼名
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张幼名
;
冯雁敏
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冯雁敏
.
中国专利
:CN202305053U
,2012-07-04
[6]
试件自动测量系统
[P].
董延东
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董延东
;
王凯闻
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王凯闻
;
程营超
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程营超
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刘世康
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刘世康
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王立刚
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王立刚
;
徐赵辉
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徐赵辉
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孙金虎
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孙金虎
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乔德慧
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乔德慧
;
张利凡
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张利凡
;
刘红艳
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刘红艳
;
徐红运
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徐红运
.
中国专利
:CN217505444U
,2022-09-27
[7]
品质自动测量系统
[P].
张淇
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张淇
.
中国专利
:CN212240675U
,2020-12-29
[8]
电阻自动测量装置及电阻自动测量系统
[P].
蒋兴荣
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蒋兴荣
;
杨志峰
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杨志峰
;
郭飞
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郭飞
.
中国专利
:CN211426647U
,2020-09-04
[9]
自动测量系统
[P].
小韦恩·R·穆尔
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小韦恩·R·穆尔
;
凯文·S·巴尼
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凯文·S·巴尼
.
中国专利
:CN1035636A
,1989-09-20
[10]
试样截面尺寸自动测量系统
[P].
徐赵辉
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徐赵辉
;
何秀颖
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何秀颖
;
乔德慧
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乔德慧
.
中国专利
:CN217424290U
,2022-09-13
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