岩石表面非均匀波速场测量装置及其测量方法

被引：0

申请号：

CN202310010317.2

申请日：

2023-01-05

公开(公告)号：

CN115685324A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

王兆丰潘鹏志张文海

申请人：

申请人地址：

430071 湖北省武汉市武昌区水果湖街小洪山2号

IPC主分类号：

G01V128

IPC分类号：

G01N2904 G01N2907 G01V1143 G01V130

代理机构：

成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241

代理人：

苟铭

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

岩石测量装置及岩石测量方法 [P].

马俯波 ;

王延忠 ;

王衍 ;

于鹏 ;

李曹雄 .

中国专利 :CN106840947A ,2017-06-13

[2]

冻融循环岩石变形测量装置及其测量方法 [P].

陈国庆 ;

王剑超 ;

李红 ;

孙祥 .

中国专利 :CN108956938A ,2018-12-07

[3]

非接触表面形状测量方法及其装置 [P].

三浦胜弘 ;

广濑一 ;

古田岛秀夫 ;

塚本贵雄 ;

石间实 .

中国专利 :CN102301200A ,2011-12-28

[4]

泥石流表面速度场分布的非接触测量装置及其测量方法 [P].

杨晖 ;

王必得 ;

李然 ;

孙其诚 .

中国专利 :CN108344879A ,2018-07-31

[5]

光辐射场均匀性测量装置及测量方法 [P].

冯国进 .

中国专利 :CN103278242A ,2013-09-04

[6]

岩石样品多功能测量装置和岩石样品测量方法 [P].

赵善坤 ;

秦凯 ;

李一哲 ;

苏振国 ;

吕坤 ;

赵阳 ;

王寅 ;

张广辉 .

中国专利 :CN117308740B ,2024-02-27

[7]

测量装置及其测量方法 [P].

欧文·皮尔斯 .

中国专利 :CN106257996B ,2016-12-28

[8]

表面测量装置、处理装置以及表面测量方法 [P].

本田敏文 ;

德永大介 .

日本专利 :CN119022868A ,2024-11-26

[9]

继电器测量装置及其测量方法 [P].

周艺 ;

刘朋举 ;

向国泰 ;

梁捷 ;

李旭旺 .

中国专利 :CN117629130A ,2024-03-01

[10]

岩石密度测量方法与岩石密度测量装置 [P].

周枫 ;

李呈呈 ;

赵群 ;

奚相 ;

刘卫华 .

中国专利 :CN104977226A ,2015-10-14

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