光子计数型的X射线计算机断层装置以及散射线校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280003585.1

申请日：

2012-08-16

公开(公告)号：

CN103200873A

公开(公告)日：

2013-07-10

发明(设计)人：

森安健太

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

孙蕾

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-03	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101736789520 IPC(主分类):A61B 6/03 专利号:ZL2012800035851 登记生效日:20160714 变更事项:专利权人变更前权利人:株式会社东芝变更后权利人:东芝医疗系统株式会社变更事项:地址变更前权利人:日本东京都变更后权利人:日本枥木变更事项:专利权人变更前权利人:东芝医疗系统株式会社变更后权利人:无
2015-05-20	授权	授权
2013-07-10	公开	公开
2013-08-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101503534248 IPC(主分类):A61B 6/03 专利申请号:2012800035851 申请日:20120816

共 50 条

[1]

光子计数X射线计算机断层摄影装置、以及光子计数X射线计算机断层摄影方法 [P].

邹宇 ;

王霄岚 .

中国专利 :CN105246410B ,2016-01-13

[2]

X射线计算机断层摄影装置以及光子计数方法 [P].

敕使川原学 .

中国专利 :CN104936525B ,2015-09-23

[3]

X射线计算机断层摄影装置以及校正方法 [P].

邹宇 ;

王霄岚 ;

曹春光 ;

梅斯尔·L·罗德里格斯 ;

张跃兴 ;

丹尼尔·加格农 .

中国专利 :CN105025796A ,2015-11-04

[4]

光子计数型图像检测器、X射线诊断装置、以及X射线计算机断层装置 [P].

永井清一郎 .

中国专利 :CN103109205B ,2013-05-15

[5]

光子计数型的X射线计算机断层摄像装置以及其数据传送方法 [P].

山崎敬之 ;

尾崎公纪 ;

茂木纯 ;

石崎真 ;

中井宏章 .

中国专利 :CN104023640A ,2014-09-03

[6]

X射线计算机断层拍摄装置以及X射线计算机断层图数据解析方法 [P].

丰岛直穗子 ;

藤泽恭子 .

中国专利 :CN1957848A ,2007-05-09

[7]

X射线计算机断层摄影装置 [P].

风间正博 ;

塚越伸介 .

中国专利 :CN1689523A ,2005-11-02

[8]

X射线计算机断层摄影装置 [P].

佐渡友哲也 ;

原田智和 ;

中野真 ;

信藤康孝 ;

五反田克己 .

中国专利 :CN1927121A ,2007-03-14

[9]

X射线计算机断层摄影系统以及该系统的数据校正方法 [P].

伊尔玛·A·海因 .

中国专利 :CN1743835A ,2006-03-08

[10]

防散射X射线计算机断层仪 [P].

曹文田 ;

李军 .

中国专利 :CN212307869U ,2021-01-08

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