一种内存越界检测方法、装置及电子设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202211260214.3

申请日：

2022-10-14

公开(公告)号：

CN115576818A

公开(公告)日：

2023-01-06

发明(设计)人：

戴纯兴党荣泉

申请人：

申请人地址：

215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

姚文杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20221014
2023-01-06	公开	公开

共 50 条

[1]

内存越界检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114691469A ,2022-07-01

[2]

内存越界检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

李志功 ;

陈永青 ;

卜景德 .

中国专利 :CN121116720A ,2025-12-12

[3]

内存越界检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

仇斌 ;

黄民发 .

中国专利 :CN110674050B ,2020-01-10

[4]

一种堆栈数据越界检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙炳彤 ;

秦明 .

中国专利 :CN117806958A ,2024-04-02

[5]

内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P].

陈安宝 ;

张辉 .

中国专利 :CN118964047A ,2024-11-15

[6]

内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P].

陈安宝 ;

张辉 .

中国专利 :CN118964047B ,2025-01-07

[7]

内存检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李程 ;

王成杰 ;

文宇良 ;

史世友 ;

李益 ;

周斌 ;

付建国 ;

谭磊 .

中国专利 :CN115525484B ,2025-10-24

[8]

内存检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李程 ;

王成杰 ;

文宇良 ;

史世友 ;

李益 ;

周斌 ;

付建国 ;

谭磊 .

中国专利 :CN115525484A ,2022-12-27

[9]

内存越界的检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

宋金时 .

中国专利 :CN111124921A ,2020-05-08

[10]

一种内存故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

孔涛 ;

郭锋 .

中国专利 :CN111984488B ,2020-11-24

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