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芯片测试结构以及芯片测试系统

被引：0
申请号：
CN202122978266.1
申请日：
2021-11-29
公开(公告)号：
CN217213013U
公开(公告)日：
2022-08-16
发明(设计)人：
邹玉生 裴聪健
申请人：
申请人地址：
430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京恒博知识产权代理有限公司 11528
代理人：
张琦
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-16 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试板、芯片验证系统、芯片测试系统以及芯片测试方法 [P]. 
胡超 ;
梁伟 .
中国专利 :CN119511026A ,2025-02-25
[2]
芯片测试组件以及芯片测试系统 [P]. 
李哲 ;
李军 ;
李春生 ;
王巧云 ;
杨凌冈 ;
张晶 .
中国专利 :CN218158211U ,2022-12-27
[3]
芯片测试系统以及芯片测试方法 [P]. 
马茂松 ;
林峰 ;
许小峰 .
中国专利 :CN112578262A ,2021-03-30
[4]
芯片测试系统以及方法 [P]. 
黄河 .
中国专利 :CN119471295A ,2025-02-18
[5]
芯片测试系统以及方法 [P]. 
林扬书 ;
林楷辉 ;
陈宏毅 ;
杨晟 ;
倪建兴 .
中国专利 :CN119291447A ,2025-01-10
[6]
芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN216285573U ,2022-04-12
[7]
芯片测试板及芯片测试系统 [P]. 
丁育林 ;
张启华 ;
谢君强 ;
孙阳阳 .
中国专利 :CN101963647A ,2011-02-02
[8]
芯片测试系统和芯片测试方法 [P]. 
黄鑫 ;
游明琦 .
中国专利 :CN1928576A ,2007-03-14
[9]
芯片测试基板和芯片测试系统 [P]. 
张明云 .
中国专利 :CN113671351A ,2021-11-19
[10]
芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P]. 
刘伟 ;
朱仁艳 ;
黄金煌 .
中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11
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