垂向测量系统、垂向测量方法及曝光机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211529202.6
申请日
2022-11-30
公开(公告)号
CN118112893A
公开(公告)日
2024-05-31
发明(设计)人
侯先飞 张民山 李煜芝
申请人
上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号
G03F7/20
IPC分类号
G03F9/00 G02B27/28 G01B11/00
代理机构
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人
张子飞
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
垂向测量装置、垂向测量方法及光刻机 [P]. 
蓝科 ;
陈彩莲 ;
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[2]
垂向测量系统及曝光装置 [P]. 
程于水 ;
毛静超 ;
孙建超 .
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[3]
掩模台垂向测量工装及掩模台垂向测量方法 [P]. 
孟昆鹏 ;
薛雷 ;
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[4]
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闫祥磊 ;
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[5]
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郭磊 ;
闫祥磊 ;
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[6]
城轨车辆垂向尺寸测量装置及测量方法 [P]. 
韩朝 ;
李忠山 ;
刘丙林 ;
王继强 ;
陶志钢 ;
王建飞 ;
杨学渊 ;
尹星 ;
李士亮 ;
贾增海 ;
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中国专利 :CN111076669A ,2020-04-28
[7]
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李忠山 ;
刘丙林 ;
王继强 ;
陶志钢 ;
王建飞 ;
杨学渊 ;
尹星 ;
李士亮 ;
贾增海 ;
任万真 .
中国专利 :CN111076669B ,2024-10-25
[8]
工件台垂向位置测量系统 [P]. 
林彬 .
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[9]
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[10]
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