电离层改正数的确定方法、设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211608816.3

申请日：

2022-12-14

公开(公告)号：

CN116125495B

公开(公告)日：

2024-04-16

发明(设计)人：

马杏叶王立刚

申请人：

北京六分科技有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区永丰路与北清路交汇处四维图新大厦

IPC主分类号：

G01S19/07

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

马明明;臧建明

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	授权	授权

共 50 条

[1]

电离层改正数的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵硕 .

中国专利 :CN119148167A ,2024-12-17

[2]

电离层延迟确定方法、装置、设备、存储介质及产品 [P].

知男 ;

吕柱旺 ;

郭海林 .

中国专利 :CN119738840A ,2025-04-01

[3]

电离层闪烁确定方法、装置、设备及介质 [P].

石昌 ;

王寅 ;

范金涛 ;

吕丹丹 ;

瞿佳 .

中国专利 :CN118294986B ,2024-08-23

[4]

电离层闪烁确定方法、装置、设备及介质 [P].

石昌 ;

王寅 ;

范金涛 ;

吕丹丹 ;

瞿佳 .

中国专利 :CN118294986A ,2024-07-05

[5]

区域电离层STEC改正数的完好性监测方法、系统 [P].

郭海林 .

中国专利 :CN113447958B ,2021-09-28

[6]

区域电离层改正数的完好性监测方法和装置 [P].

陈金培 ;

郭海林 ;

陈杰 ;

冯绍军 .

中国专利 :CN114721014A ,2022-07-08

[7]

区域电离层改正数的完好性监测方法和装置 [P].

陈金培 ;

郭海林 ;

陈杰 ;

冯绍军 .

中国专利 :CN114721014B ,2025-03-14

[8]

电离层电子密度的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄胜 ;

卢旭阳 ;

李太祥 ;

谢华忠 ;

徐升 ;

杨孔万 ;

田野 ;

张统治 .

中国专利 :CN118294983A ,2024-07-05

[9]

电离层闪烁失锁风险确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

王岸石 ;

陈楚天 ;

苏从兵 ;

郑金华 ;

杨明 ;

胡耀坤 .

中国专利 :CN119716912A ,2025-03-28

[10]

火山电离层异常扰动确定方法、系统、存储介质及设备 [P].

王一帆 ;

彭晶 ;

马御棠 ;

张亭 ;

袁运斌 ;

马仪 ;

王国芳 ;

耿浩 ;

曹俊 ;

尹春林 ;

代泽林 ;

杜肖 ;

饶桐 ;

毕云川 ;

李彦锋 .

中国专利 :CN119199922B ,2025-07-04

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