集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322856969.6

申请日：

2023-10-24

公开(公告)号：

CN221124786U

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

蔡晓东

申请人：

日月新半导体（苏州）有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/02

代理机构：

深圳市兴科达知识产权代理有限公司 44260

代理人：

郑云弟

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试装置 [P].

周梁 .

中国专利 :CN215067096U ,2021-12-07

[2]

一种集成电路测试装置 [P].

张新波 .

中国专利 :CN222212820U ,2024-12-20

[3]

一种简易集成电路测试装置 [P].

姚金标 .

中国专利 :CN217901954U ,2022-11-25

[4]

新型集成电路测试装置 [P].

林峰 ;

姜龙 .

中国专利 :CN221199857U ,2024-06-21

[5]

集成电路strip测试装置 [P].

沈飞飞 ;

张志伟 ;

刘小飞 ;

苏康宏 ;

韩学森 ;

陈乃溪 .

中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11

[6]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[7]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[8]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

[9]

集成电路测试装置 [P].

刘丰 ;

吕方艳 ;

梁晓梅 ;

刘应明 .

中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26

[10]

集成电路测试装置 [P].

王国华 .

中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19

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