模块测试方法、模块测试装置及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311231147.7

申请日：

2023-09-22

公开(公告)号：

CN117347753A

公开(公告)日：

2024-01-05

发明(设计)人：

陶晖刘绿山陈振宇

申请人：

深圳研控自动化科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷六栋B座1607-1611

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G05B19/042 H04L43/50

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542

代理人：

李晶

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20230922
2024-01-05	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置及计算机可读存储介质 [P].

苏宇泉 ;

冯宇翔 .

中国专利 :CN107390077B ,2017-11-24

[2]

测试方法、测试装置及计算机可读存储介质 [P].

古欣 ;

王磊 ;

杨战东 ;

邵慧 ;

李英文 ;

王珊 .

中国专利 :CN113485919A ,2021-10-08

[3]

测试方法、测试装置及计算机可读存储介质 [P].

古欣 ;

王磊 ;

杨战东 ;

邵慧 ;

李英文 ;

王珊 .

中国专利 :CN113485919B ,2024-01-26

[4]

测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质 [P].

叶仁成 .

中国专利 :CN109710508A ,2019-05-03

[5]

测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质 [P].

叶仁成 .

中国专利 :CN109710508B ,2024-03-15

[6]

测试方法、测试装置、系统及计算机可读存储介质 [P].

陈军 ;

杨天子 ;

吴宏波 ;

何文平 ;

苏展雯 ;

马昊元 ;

王永谦 .

中国专利 :CN120613984A ,2025-09-09

[7]

测试装置、测试方法和计算机可读存储介质 [P].

石培杰 ;

陈良 ;

郭宪超 ;

姚健 .

中国专利 :CN112559268A ,2021-03-26

[8]

测试装置、测试方法和计算机可读存储介质 [P].

王兴成 .

中国专利 :CN117368559A ,2024-01-09

[9]

测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

江殿宇 ;

苏航 ;

刘佳 ;

曾维 .

中国专利 :CN113900912B ,2022-01-07

[10]

测试方法、测试装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

谢东辰 ;

郝金隆 .

中国专利 :CN115391190A ,2022-11-25

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