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节点接触电阻的测量方法及设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202211130570.3
申请日
:
2022-09-15
公开(公告)号
:
CN117741250A
公开(公告)日
:
2024-03-22
发明(设计)人
:
姜焕德
宋王琴
申请人
:
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
:
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
:
G01R27/08
IPC分类号
:
H01L21/66
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-09
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 27/08申请日:20220915
2024-03-22
公开
公开
共 50 条
[1]
节点接触的电阻测量方法及设备
[P].
姜焕德
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姜焕德
.
中国专利
:CN115128350A
,2022-09-30
[2]
用于测量接触电阻的TFT及接触电阻的测量方法
[P].
孙博
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孙博
;
邹晓灵
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邹晓灵
.
中国专利
:CN105223420A
,2016-01-06
[3]
开关触点接触电阻动态测量方法及动态测量装置
[P].
罗毅
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罗毅
;
杨昆
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杨昆
;
商春雪
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商春雪
.
中国专利
:CN104635059A
,2015-05-20
[4]
接触电阻测量方法及装置
[P].
郑风雷
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郑风雷
;
尹创荣
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尹创荣
;
张远健
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张远健
;
陈冠豪
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陈冠豪
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刘贯科
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刘贯科
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杨睿
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杨睿
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周潮
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周潮
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夏云峰
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夏云峰
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黄健华
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黄健华
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袁智斌
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袁智斌
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吴勋
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吴勋
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张忠豪
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张忠豪
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巫伟中
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巫伟中
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王传旭
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王传旭
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邱秋辉
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邱秋辉
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陈灿辉
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陈灿辉
;
陈华干
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陈华干
.
中国专利
:CN109188096A
,2019-01-11
[5]
接触电阻测量方法及装置
[P].
郑风雷
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郑风雷
;
尹创荣
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尹创荣
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张远健
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张远健
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陈冠豪
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陈冠豪
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刘贯科
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刘贯科
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杨睿
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杨睿
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周潮
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周潮
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夏云峰
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夏云峰
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黄健华
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黄健华
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袁智斌
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袁智斌
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吴勋
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吴勋
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张忠豪
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张忠豪
;
巫伟中
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巫伟中
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王传旭
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王传旭
;
邱秋辉
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邱秋辉
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陈灿辉
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陈灿辉
;
陈华干
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陈华干
.
中国专利
:CN111707872B
,2020-09-25
[6]
位线接触节点电阻的测量方法及设备
[P].
白新
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
白新
;
姜焕德
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
姜焕德
.
中国专利
:CN115267335B
,2025-10-28
[7]
积分式接触电阻测量系统及测量方法
[P].
任万滨
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任万滨
;
曹晟
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曹晟
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周志凯
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周志凯
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陈宇
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陈宇
;
武剑
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武剑
.
中国专利
:CN102707149B
,2012-10-03
[8]
接触电阻的测量方法及其测量装置
[P].
闫丽
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闫丽
;
张闻斌
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张闻斌
;
王琪
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王琪
;
顾凯
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顾凯
;
陆军威
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陆军威
.
中国专利
:CN105738704A
,2016-07-06
[9]
探针接触电阻在线测量方法
[P].
余琨
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余琨
;
汤雪飞
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汤雪飞
;
王锦
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王锦
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刘远华
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刘远华
;
张志勇
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张志勇
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叶守银
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叶守银
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祁建华
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祁建华
;
牛勇
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牛勇
.
中国专利
:CN101937021A
,2011-01-05
[10]
欧姆接触比接触电阻测量方法、装置、设备及存储介质
[P].
尹振
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机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
尹振
;
尚海平
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机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
尚海平
;
王英辉
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机构:
昆山微电子技术研究院
昆山微电子技术研究院
王英辉
.
中国专利
:CN113884765B
,2024-08-06
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