DPCR芯片、制备方法、检测方法及检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210870237.X
申请日
2022-07-22
公开(公告)号
CN117467529A
公开(公告)日
2024-01-30
发明(设计)人
邓睿君 丁丁 刘祝凯
申请人
北京京东方技术开发有限公司 京东方科技集团股份有限公司
申请人地址
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区地泽路9号1幢407室
IPC主分类号
C12M1/34
IPC分类号
C12M1/02 C12M1/38 C12M1/00 C12Q1/686
代理机构
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人
王春艳
法律状态
公开
国省代码
海南省 省直辖县级行政区划
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共 50 条
[1]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06
[2]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06
[3]
芯片检测装置及芯片检测方法 [P]. 
高振凯 ;
魏福呈 .
中国专利 :CN118584294A ,2024-09-03
[4]
核酸检测芯片及检测方法 [P]. 
张立新 ;
王慧锋 ;
顾震 ;
刘光 ;
颜秉勇 ;
黄术强 ;
田晓丽 ;
黄高健 ;
刘家坤 ;
韩照晰 .
中国专利 :CN111704994A ,2020-09-25
[5]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25
[6]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01
[7]
芯片检测方法、芯片检测装置 [P]. 
吕智谋 ;
刘宁 ;
黄孟孟 .
中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20
[8]
基因检测芯片、检测装置及检测方法 [P]. 
竹中繁织 ;
内田和彦 ;
宫原孝俊 .
中国专利 :CN1341211A ,2002-03-20
[9]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN117110292B ,2025-08-12
[10]
检测方法、检测装置及逻辑芯片 [P]. 
李玉林 .
中国专利 :CN101217303A ,2008-07-09