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DPCR芯片、制备方法、检测方法及检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210870237.X
申请日
:
2022-07-22
公开(公告)号
:
CN117467529A
公开(公告)日
:
2024-01-30
发明(设计)人
:
邓睿君
丁丁
刘祝凯
申请人
:
北京京东方技术开发有限公司
京东方科技集团股份有限公司
申请人地址
:
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区地泽路9号1幢407室
IPC主分类号
:
C12M1/34
IPC分类号
:
C12M1/02
C12M1/38
C12M1/00
C12Q1/686
代理机构
:
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人
:
王春艳
法律状态
:
公开
国省代码
:
海南省 省直辖县级行政区划
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-30
公开
公开
2024-02-20
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):C12M 1/34申请日:20220722
共 50 条
[1]
芯片检测方法及芯片检测装置
[P].
周舰波
论文数:
0
引用数:
0
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0
周舰波
.
中国专利
:CN113075533B
,2021-07-06
[2]
芯片检测方法及芯片检测装置
[P].
周舰波
论文数:
0
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0
周舰波
.
中国专利
:CN113075532A
,2021-07-06
[3]
芯片检测装置及芯片检测方法
[P].
高振凯
论文数:
0
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机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
高振凯
;
魏福呈
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0
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机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
魏福呈
.
中国专利
:CN118584294A
,2024-09-03
[4]
核酸检测芯片及检测方法
[P].
张立新
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张立新
;
王慧锋
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王慧锋
;
顾震
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顾震
;
刘光
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刘光
;
颜秉勇
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颜秉勇
;
黄术强
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黄术强
;
田晓丽
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田晓丽
;
黄高健
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黄高健
;
刘家坤
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刘家坤
;
韩照晰
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韩照晰
.
中国专利
:CN111704994A
,2020-09-25
[5]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN118245311A
,2024-06-25
[6]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN117632606A
,2024-03-01
[7]
芯片检测方法、芯片检测装置
[P].
吕智谋
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
吕智谋
;
刘宁
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
刘宁
;
黄孟孟
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机构:
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
浙江正泰仪器仪表有限责任公司
黄孟孟
.
中国专利
:CN118245311B
,2024-08-20
[8]
基因检测芯片、检测装置及检测方法
[P].
竹中繁织
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竹中繁织
;
内田和彦
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内田和彦
;
宫原孝俊
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宫原孝俊
.
中国专利
:CN1341211A
,2002-03-20
[9]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法
[P].
周培松
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
周培松
;
许燚赟
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
许燚赟
;
张文昊
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
张文昊
.
中国专利
:CN117110292B
,2025-08-12
[10]
检测方法、检测装置及逻辑芯片
[P].
李玉林
论文数:
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0
李玉林
.
中国专利
:CN101217303A
,2008-07-09
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