一种显示面板残影检测方法、装置及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410224061.X

申请日：

2024-02-29

公开(公告)号：

CN117809540A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

刘洒杨楷杨阳蔡宗久

申请人：

武汉精立电子技术有限公司武汉精测电子集团股份有限公司

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号

IPC主分类号：

G09G3/00

IPC分类号：

代理机构：

武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267

代理人：

邓彦彦

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-07	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G09G 3/00申请公布日:20240402
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G09G 3/00申请日:20240229
2024-04-02	公开	公开

共 50 条

[1]

显示面板残影检测方法及装置 [P].

马悦兴 ;

朱修剑 .

中国专利 :CN110376218B ,2019-10-25

[2]

显示面板残影检测方法以及检测装置 [P].

黄志娟 ;

王志祥 .

中国专利 :CN111341233B ,2020-06-26

[3]

显示面板的残影检测方法和装置 [P].

凡艳云 .

中国专利 :CN115294901B ,2024-10-22

[4]

残影消除方法、残影消除装置及显示面板 [P].

苏国火 ;

孙志华 ;

李森旺 ;

林准 .

中国专利 :CN111951712A ,2020-11-17

[5]

一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备 [P].

戴佳峰 ;

李荣华 .

中国专利 :CN112129489A ,2020-12-25

[6]

显示面板残影风险评估方法及显示面板 [P].

罗国仁 .

中国专利 :CN113075806A ,2021-07-06

[7]

显示面板的残影测试方法及装置 [P].

陈宗志 ;

蔡思伟 .

中国专利 :CN113963645A ,2022-01-21

[8]

显示面板的残像检测方法及残像检测装置 [P].

浦超 ;

张大成 ;

单庆山 ;

陈小川 ;

杨盛际 ;

杨俊彦 ;

杨树成 ;

张明瑞 ;

屈刘泽明 ;

王蕾 ;

王玉玲 ;

苏琦 ;

马召 ;

谢卓洋 .

中国专利 :CN117789620A ,2024-03-29

[9]

显示面板的残影测试方法、残影测试装置 [P].

马建东 .

中国专利 :CN111397856B ,2020-07-10

[10]

一种显示面板的残影测量方法及装置 [P].

刘同海 .

中国专利 :CN112349231B ,2021-02-09

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