字符缺陷检测方法、检测装置、检测系统和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311797430.6

申请日：

2023-12-25

公开(公告)号：

CN117788404A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

杨柳青杨英豪

申请人：

凌云光技术股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/30 G06T5/30 G06T5/50

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

张培培

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231225

共 50 条

[1]

电池片缺陷检测方法、检测装置、检测系统和存储介质 [P].

唐浩 ;

杨凌霄 ;

郭洋洋 .

中国专利 :CN118150592A ,2024-06-07

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

葛亮 ;

王素利 .

中国专利 :CN119887676A ,2025-04-25

[3]

二次曲面缺陷检测方法、检测装置、检测系统和存储介质 [P].

贾国靖 .

中国专利 :CN117934369A ,2024-04-26

[4]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[5]

均衡状态检测方法、检测装置、检测系统和存储介质 [P].

沈晓峰 ;

刘苑红 ;

何龙富 ;

杨鹏飞 .

中国专利 :CN119805285A ,2025-04-11

[6]

电压异常检测方法、检测装置、检测系统和存储介质 [P].

王晓培 ;

何青青 ;

曾微笑 ;

鲍君 ;

于浩 .

中国专利 :CN119805261A ,2025-04-11

[7]

物体区域检测方法、检测装置、检测系统和存储介质 [P].

王玉莹 ;

岳扩明 .

中国专利 :CN119888185A ,2025-04-25

[8]

焊缝缺陷检测方法、装置、系统和介质 [P].

纪昂 ;

张立平 ;

陆智俊 ;

陈明刚 .

中国专利 :CN119228781A ,2024-12-31

[9]

皮肤检测方法、皮肤检测装置、皮肤检测系统和存储介质 [P].

高飞 ;

姜博洋 .

中国专利 :CN118216883A ,2024-06-21

[10]

缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖瑶 ;

张鹏斌 ;

张嵩 .

中国专利 :CN117670781A ,2024-03-08

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