一种多功能集成电路芯片测试机

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322302610.4

申请日：

2023-08-27

公开(公告)号：

CN220913288U

公开(公告)日：

2024-05-07

发明(设计)人：

何青海

申请人：

皮纳捷（上海）微电子有限公司

申请人地址：

201805 上海市嘉定区安亭镇宝安公路4997号6幢1层A区144室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

B65G47/22 B65G13/00 G01R1/04

代理机构：

代理人：

法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种多功能集成电路芯片测试机 [P].

韦雷雷 .

中国专利 :CN222506491U ,2025-02-18

[2]

多功能集成电路芯片测试机 [P].

刘华 ;

赵春莲 ;

姚琳 ;

张超 ;

华锡培 .

中国专利 :CN101587167A ,2009-11-25

[3]

一种多功能集成电路芯片测试机 [P].

黄辉 .

中国专利 :CN212341374U ,2021-01-12

[4]

一种集成电路芯片测试机 [P].

柯武生 ;

翁国权 ;

王汉波 ;

郭军 .

中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25

[5]

新型集成电路芯片测试机 [P].

刘华 ;

赵春莲 ;

姚琳 ;

张超 ;

华锡培 .

中国专利 :CN201434900Y ,2010-03-31

[6]

集成电路芯片测试机 [P].

侯海平 .

中国专利 :CN301409411S ,2010-12-15

[7]

一种集成电路芯片测试机 [P].

姚金标 .

中国专利 :CN218167857U ,2022-12-30

[8]

一种集成电路芯片OS测试机 [P].

常浩 ;

刘增红 ;

陈春 .

中国专利 :CN220635360U ,2024-03-22

[9]

一种集成电路芯片测试定位装置 [P].

龙传忠 ;

王开富 .

中国专利 :CN217181135U ,2022-08-12

[10]

一种新型模拟集成电路芯片测试机 [P].

朱培 ;

韩炳伟 .

中国专利 :CN215833549U ,2022-02-15

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