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磁传感器及其制造方法、以及磁检测装置和磁检测系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011108663.7
申请日
:
2020-10-16
公开(公告)号
:
CN112710973B
公开(公告)日
:
2024-02-06
发明(设计)人
:
高杉圭祐
申请人
:
TDK株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01R33/09
IPC分类号
:
G01N27/74
G01N33/543
代理机构
:
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
:
杨琦;程采
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-06
授权
授权
共 50 条
[1]
磁传感器及其制造方法、以及磁检测装置和磁检测系统
[P].
高杉圭祐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高杉圭祐
.
中国专利
:CN112710973A
,2021-04-27
[2]
磁传感器、磁检测装置及磁检测系统
[P].
高杉圭祐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高杉圭祐
.
中国专利
:CN113267620A
,2021-08-17
[3]
磁传感器、磁检测装置及磁检测系统
[P].
高杉圭祐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TDK株式会社
TDK株式会社
高杉圭祐
.
日本专利
:CN113267620B
,2024-10-29
[4]
磁检测装置、磁传感器以及磁检测方法
[P].
竹中一马
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
竹中一马
;
野口直记
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
野口直记
.
日本专利
:CN117368809A
,2024-01-09
[5]
磁检测装置、磁检测单元及其制造方法、磁检测系统
[P].
牛田彩希
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
旭化成微电子株式会社
旭化成微电子株式会社
牛田彩希
.
日本专利
:CN117590298A
,2024-02-23
[6]
磁传感器、具备该磁传感器的位置检测装置、以及磁传感器的制造方法
[P].
中村大佐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社村田制作所
株式会社村田制作所
中村大佐
;
指宿隆弘
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社村田制作所
株式会社村田制作所
指宿隆弘
.
日本专利
:CN117795359A
,2024-03-29
[7]
磁传感器、检测装置及检测系统
[P].
高杉圭祐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高杉圭祐
.
中国专利
:CN111722165A
,2020-09-29
[8]
磁传感器及其磁检测方法
[P].
山下昌哉
论文数:
0
引用数:
0
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0
山下昌哉
;
山县曜
论文数:
0
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0
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0
山县曜
;
田中健
论文数:
0
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0
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0
田中健
;
御子柴宪彦
论文数:
0
引用数:
0
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0
御子柴宪彦
.
中国专利
:CN105929345A
,2016-09-07
[9]
磁传感器及其磁检测方法
[P].
石井宏典
论文数:
0
引用数:
0
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0
石井宏典
;
藤田浩己
论文数:
0
引用数:
0
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0
藤田浩己
.
中国专利
:CN104105978B
,2014-10-15
[10]
磁传感器及其磁检测方法
[P].
山下昌哉
论文数:
0
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0
山下昌哉
;
山县曜
论文数:
0
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山县曜
;
田中健
论文数:
0
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0
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田中健
;
御子柴宪彦
论文数:
0
引用数:
0
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0
御子柴宪彦
.
中国专利
:CN104303066B
,2015-01-21
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