磁传感器及其制造方法、以及磁检测装置和磁检测系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011108663.7
申请日
2020-10-16
公开(公告)号
CN112710973B
公开(公告)日
2024-02-06
发明(设计)人
高杉圭祐
申请人
TDK株式会社
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01R33/09
IPC分类号
G01N27/74 G01N33/543
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
杨琦;程采
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
磁传感器及其制造方法、以及磁检测装置和磁检测系统 [P]. 
高杉圭祐 .
中国专利 :CN112710973A ,2021-04-27
[2]
磁传感器、磁检测装置及磁检测系统 [P]. 
高杉圭祐 .
中国专利 :CN113267620A ,2021-08-17
[3]
磁传感器、磁检测装置及磁检测系统 [P]. 
高杉圭祐 .
日本专利 :CN113267620B ,2024-10-29
[4]
磁检测装置、磁传感器以及磁检测方法 [P]. 
竹中一马 ;
野口直记 .
日本专利 :CN117368809A ,2024-01-09
[5]
磁检测装置、磁检测单元及其制造方法、磁检测系统 [P]. 
牛田彩希 .
日本专利 :CN117590298A ,2024-02-23
[6]
磁传感器、具备该磁传感器的位置检测装置、以及磁传感器的制造方法 [P]. 
中村大佐 ;
指宿隆弘 .
日本专利 :CN117795359A ,2024-03-29
[7]
磁传感器、检测装置及检测系统 [P]. 
高杉圭祐 .
中国专利 :CN111722165A ,2020-09-29
[8]
磁传感器及其磁检测方法 [P]. 
山下昌哉 ;
山县曜 ;
田中健 ;
御子柴宪彦 .
中国专利 :CN105929345A ,2016-09-07
[9]
磁传感器及其磁检测方法 [P]. 
石井宏典 ;
藤田浩己 .
中国专利 :CN104105978B ,2014-10-15
[10]
磁传感器及其磁检测方法 [P]. 
山下昌哉 ;
山县曜 ;
田中健 ;
御子柴宪彦 .
中国专利 :CN104303066B ,2015-01-21