应用程序测试方法、系统、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311484089.9
申请日
2023-11-08
公开(公告)号
CN117421239A
公开(公告)日
2024-01-19
发明(设计)人
唐千翔
申请人
深圳市道通合盛软件开发有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区高新北六道36号彩虹科技大楼四层
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
G06F8/65
代理机构
深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341
代理人
何婷
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
应用程序测试方法、测试设备及存储介质 [P]. 
范亚平 .
中国专利 :CN118227496A ,2024-06-21
[2]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张宗铭 ;
詹萍萍 ;
张伟 .
中国专利 :CN111274152B ,2020-06-12
[3]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
于鑫 ;
李良斌 .
中国专利 :CN117493205A ,2024-02-02
[4]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
牛旭 .
中国专利 :CN111949551A ,2020-11-17
[5]
应用程序测试方法、设备及存储介质 [P]. 
詹金钊 .
中国专利 :CN112219195A ,2021-01-12
[6]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
杨军 ;
文施嘉 .
中国专利 :CN112988552A ,2021-06-18
[7]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
周志刚 ;
张文明 ;
陈少杰 .
中国专利 :CN108664395B ,2018-10-16
[8]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
周志刚 ;
陈少杰 ;
张文明 .
中国专利 :CN108628743A ,2018-10-09
[9]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
肖磊 ;
刘汉红 ;
吴建伟 .
中国专利 :CN111045931A ,2020-04-21
[10]
应用程序测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王惠敏 .
中国专利 :CN114428950A ,2022-05-03