图像缺陷目标检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410254103.4

申请日：

2024-03-06

公开(公告)号：

CN118154529A

公开(公告)日：

2024-06-07

发明(设计)人：

汤丁丁卢仲兴周艳刘学进郭二卫汪小东张利娜湛德崔航董凯锋晋芳杨越宋俊磊莫文琴

申请人：

中建三局绿色产业投资有限公司

申请人地址：

430000 湖北省武汉市武汉经济技术开发区车城大道220号研发楼2楼215号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/045 G06N3/0464 G06N3/08

代理机构：

武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238

代理人：

王佩

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-07	公开	公开
2024-06-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240306

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯玮 ;

张一凡 .

中国专利 :CN117853418A ,2024-04-09

[2]

一种工业缺陷目标检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118365647B ,2024-09-20

[3]

一种工业缺陷目标检测方法、系统、设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118365647A ,2024-07-19

[4]

钢材表面缺陷目标检测方法、装置、计算机设备及介质 [P].

方方 ;

陈丘轲 .

中国专利 :CN118865063A ,2024-10-29

[5]

目标检测方法及装置、设备、存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118196395A ,2024-06-14

[6]

目标检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

王周璞 ;

胡婧 ;

吴素崟 ;

樊闯 ;

阮靖琳 .

中国专利 :CN116704505B ,2025-10-17

[7]

目标检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄娟娟 ;

王志坚 ;

田磊 ;

刘阳 ;

秦涛 .

中国专利 :CN119131352A ,2024-12-13

[8]

目标检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

冯蓬勃 ;

李勇强 ;

李会富 ;

高巍 ;

尹春雷 .

中国专利 :CN115424153A ,2022-12-02

[9]

图像中目标检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

熊博颖 .

中国专利 :CN111160368A ,2020-05-15

[10]

目标检测模型、目标检测方法、设备及存储介质 [P].

英晓勇 ;

阙波 ;

乔梦竹 ;

周晓光 .

中国专利 :CN119107443A ,2024-12-10

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