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一种Mo源品质检测系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410186789.8
申请日：
2024-02-20
公开(公告)号：
CN117969768A
公开(公告)日：
2024-05-03
发明(设计)人：
潘华杰
张松
张思勰
任如
申请人：
上海栎智半导体科技有限公司
申请人地址：
201199 上海市闵行区七莘路1189号6幢1层
IPC主分类号：
G01N33/00
IPC分类号：
G01D21/02
代理机构：
上海维卓专利代理有限公司 31409
代理人：
马希超
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
上海市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-05-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 33/00申请日:20240220 |
| 2024-12-31 | 著录事项变更 | 著录事项变更IPC(主分类):G01N 33/00变更事项:申请人变更前:上海栎智半导体科技有限公司变更后:上海栎智半导体科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:201199 上海市闵行区七莘路1189号6幢1层变更后:201199 上海市闵行区七莘路1189号6幢1层 |
| 2024-05-03 | 公开 | 公开 |