测距装置、距离校正方法以及测距程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311277078.3

申请日：

2023-10-07

公开(公告)号：

CN118050708A

公开(公告)日：

2024-05-17

发明(设计)人：

伊藤克美杉山久贵泉克彦

申请人：

日立乐金光科技株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01S7/497

IPC分类号：

G01S17/08 G01S7/484 G01S7/486

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;范胜杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-17	公开	公开
2024-06-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/497申请日:20231007

共 50 条

[1]

测距校正装置、测距校正系统、测距校正方法和测距校正程序 [P].

三木洋平 .

中国专利 :CN113167895A ,2021-07-23

[2]

一种激光测距距离校正方法及系统 [P].

黄立 ;

万金建 ;

刘寿宝 ;

程正喜 ;

陈虎 ;

薛源 ;

胡倩 .

中国专利 :CN120214765A ,2025-06-27

[3]

测量距离的修正方法、测距装置和测距系统 [P].

伊藤克美 ;

稻叶诚二 .

中国专利 :CN113176578A ,2021-07-27

[4]

测距方法、测距装置以及程序 [P].

能势悠吾 ;

香山信三 ;

小田川明弘 ;

春日繁孝 ;

簿田学 .

中国专利 :CN113614566A ,2021-11-05

[5]

测距方法以及测距装置 [P].

间瀬光人 ;

平光纯 ;

岛田明洋 .

中国专利 :CN106574974B ,2017-04-19

[6]

测距装置、测距方法、测距程序及测距系统以及拍摄装置 [P].

石山英二 ;

增田智纪 .

中国专利 :CN102597693B ,2012-07-18

[7]

测距装置以及测距方法 [P].

中前伸崇 ;

南有纪 ;

松本弥 ;

大谷充彦 ;

松尾纯一 ;

浅野拓也 ;

高野遥 ;

斋藤繁 ;

香山信三 ;

藤井俊哉 .

日本专利 :CN114641707B ,2025-08-19

[8]

测距装置以及测距方法 [P].

中前伸崇 ;

南有纪 ;

松本弥 ;

大谷充彦 ;

松尾纯一 ;

浅野拓也 ;

高野遥 ;

斋藤繁 ;

香山信三 ;

藤井俊哉 .

中国专利 :CN114641707A ,2022-06-17

[9]

测距装置以及测距方法 [P].

印秉宏 ;

王佳祥 .

中国专利 :CN113985425A ,2022-01-28

[10]

测距装置以及测距方法 [P].

白木宏一 .

中国专利 :CN105164550A ,2015-12-16

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