模拟集成电路的设计的电子装置的操作方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310402103.X

申请日：

2023-04-14

公开(公告)号：

CN117454812A

公开(公告)日：

2024-01-26

发明(设计)人：

白贤哲

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G06F30/3308

IPC分类号：

G06F30/327 G06F111/10

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

李娜;王占杰

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-26	公开	公开
2025-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/3308申请日:20230414

共 50 条

[1]

模拟集成电路的智能设计系统及设计方法 [P].

高树静 ;

巩敦卫 ;

房延泠 ;

赵春亮 ;

王迪 ;

王志超 ;

徐子朋 ;

毛翠珠 .

中国专利 :CN119005091A ,2024-11-22

[2]

模拟集成电路的智能设计系统及设计方法 [P].

高树静 ;

巩敦卫 ;

房延泠 ;

赵春亮 ;

王迪 ;

王志超 ;

徐子朋 ;

毛翠珠 .

中国专利 :CN119005091B ,2025-08-12

[3]

用于校准模拟集成电路的装置 [P].

宋振宇 ;

陈利杰 .

中国专利 :CN202153440U ,2012-02-29

[4]

用于校准模拟集成电路的方法和装置 [P].

宋振宇 ;

陈利杰 .

中国专利 :CN102779555A ,2012-11-14

[5]

集成电路装置和集成电路装置的操作方法 [P].

姜基进 .

韩国专利 :CN110472441B ,2025-04-11

[6]

集成电路装置和集成电路装置的操作方法 [P].

姜基进 .

中国专利 :CN110472441A ,2019-11-19

[7]

一种模拟集成电路设计调试的方法 [P].

吴玉平 ;

陈岚 ;

叶甜春 .

中国专利 :CN102339328A ,2012-02-01

[8]

集成电路及集成电路的设计和操作方法 [P].

T·R·贝德纳 ;

P·E·顿恩 ;

S·W·高尔德 ;

J·H·潘纳 ;

P·S·祖乔维斯基 .

中国专利 :CN100538707C ,2001-09-19

[9]

电子装置、集成电路的设计与制造方法及产品的操作方法 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115694805A ,2023-02-03

[10]

电子装置、集成电路的设计与制造方法及产品的操作方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN115694805B ,2025-08-05

← 1 2 3 4 5 →