一种芯片测试机相机垂直调节机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322103108.0

申请日：

2023-08-04

公开(公告)号：

CN220357612U

公开(公告)日：

2024-01-16

发明(设计)人：

周秋香钟文展

申请人：

深圳市浦洛电子科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区福海街道新田社区新田大道71-1号601

IPC主分类号：

G06T7/80

IPC分类号：

代理机构：

深圳市深可信专利代理有限公司 44599

代理人：

黄蕴丽

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-16	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

[2]

一种芯片测试机构 [P].

庄渊胜 ;

蔡江梁 ;

王强 .

中国专利 :CN213122195U ,2021-05-04

[3]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[4]

一种芯片烧录测试机构 [P].

韩烨 .

中国专利 :CN221595635U ,2024-08-23

[5]

一种芯片测试机用芯片定位机构 [P].

朱松 .

中国专利 :CN210778490U ,2020-06-16

[6]

一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机 [P].

梁建 ;

罗雄科 .

中国专利 :CN211856671U ,2020-11-03

[7]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[8]

一种芯片测试机构 [P].

吴学军 ;

蒋卫兵 .

中国专利 :CN118091372A ,2024-05-28

[9]

一种芯片测试机旋转机构 [P].

王瑾 ;

李文哲 ;

石丹国 ;

胡生员 ;

曹小建 .

中国专利 :CN210771295U ,2020-06-16

[10]

一种四拼芯片测试机构 [P].

荣国青 ;

门蒙 ;

张健星 .

中国专利 :CN211578711U ,2020-09-25

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