一种控温测试温箱

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202321432474.4
申请日
2023-06-06
公开(公告)号
CN220323470U
公开(公告)日
2024-01-09
发明(设计)人
孙成思 何瀚 王灿 张鑫
申请人
成都态坦测试科技有限公司
申请人地址
610000 四川省成都市高新区合顺路2号2号楼1单元12层1号、2号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G05D27/02
代理机构
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人
隆毅
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片老化测试温箱 [P]. 
何瀚 ;
孙成思 ;
王灿 ;
徐永刚 ;
张鑫 .
中国专利 :CN221860609U ,2024-10-18
[2]
一种控温箱 [P]. 
刘翔臻 ;
徐晓丽 ;
吴朝朝 ;
孟梅 ;
吕光磊 .
中国专利 :CN205098727U ,2016-03-23
[3]
一种控温箱 [P]. 
邵明华 ;
黄寅春 ;
张海洋 ;
刘园 .
中国专利 :CN209582431U ,2019-11-05
[4]
一种大型冷热循环控温测试箱 [P]. 
于迪 .
中国专利 :CN223439873U ,2025-10-17
[5]
一种控温箱 [P]. 
张家地 ;
邓谦 ;
王伟乾 ;
周洁 ;
钱戈韬 .
中国专利 :CN220999966U ,2024-05-24
[6]
温升测试箱和温升测试系统 [P]. 
沈露露 ;
龙丽丽 .
中国专利 :CN223565806U ,2025-11-18
[7]
一种内存测试控温机构 [P]. 
杨俊 ;
杨思伟 .
中国专利 :CN222980175U ,2025-06-13
[8]
一种内存条测试控温机构 [P]. 
杨俊 .
中国专利 :CN222801058U ,2025-04-25
[9]
测试温箱 [P]. 
赵龙 .
中国专利 :CN205786997U ,2016-12-07
[10]
一种可变温区的控温箱 [P]. 
孟绍东 ;
骆向东 .
中国专利 :CN206766602U ,2017-12-19