用于监测集成系统封装件内的缺陷的系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311372410.4

申请日：

2023-10-23

公开(公告)号：

CN117929523A

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

D·朱斯蒂 M·德尔萨尔托 F·夸利亚 E·杜奇

申请人：

意法半导体股份有限公司

申请人地址：

意大利阿格拉布里安扎

IPC主分类号：

G01N29/04

IPC分类号：

B81C99/00 B81B7/00 B81B7/02

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

潘树志

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 29/04申请日:20231023
2024-04-26	公开	公开

共 50 条

[1]

用于基于磁场的电流监测的集成系统级封装件 [P].

D·G·帕蒂 .

:CN119706729A ,2025-03-28

[2]

用于监测集成系统的系统和方法 [P].

V·普拉萨德 ;

A·R·科尔瓦卡 ;

S·S·沙 ;

F·利贝拉托尔 ;

R·奈克 .

中国专利 :CN102369487A ,2012-03-07

[3]

用于脉管系统内的导管放置的集成系统 [P].

S·梅瑟利 ;

J·B·考克斯 ;

A·K·米森纳 ;

C·C·布莱特 ;

R·R·莱蒙 ;

C·K·克鲁克 ;

M·W·包恩 ;

E·K·伯恩赛德 ;

K·J·克里斯琴 ;

A·欧罗密 ;

J·R·斯塔斯 .

中国专利 :CN103750858B ,2014-04-30

[4]

用于脉管系统内的导管放置的集成系统 [P].

S·梅瑟利 ;

J·B·考克斯 ;

A·K·米森纳 ;

C·C·布莱特 ;

R·R·莱蒙 ;

C·K·克鲁克 ;

M·W·包恩 ;

E·K·伯恩赛德 ;

K·J·克里斯琴 ;

A·欧罗密 ;

J·R·斯塔斯 .

中国专利 :CN101925333A ,2010-12-22

[5]

用于监测固体结构内的压力的集成电子设备 [P].

A·帕加尼 .

中国专利 :CN105074411A ,2015-11-18

[6]

用于光刻系统的光能量监测系统 [P].

何少锋 .

中国专利 :CN202472238U ,2012-10-03

[7]

用于光刻系统的光能量监测系统 [P].

何少锋 .

中国专利 :CN102566310A ,2012-07-11

[8]

金属嵌件模内监测系统 [P].

刘天亮 ;

陈小滨 ;

张丽丽 .

中国专利 :CN114347364A ,2022-04-15

[9]

用于健康监测系统的结构 [P].

S·C·查尔顿 ;

陈钧 ;

陈琳 ;

傅强 ;

I·郭弗曼 ;

S·B·哈里斯 ;

P·L·因曼 ;

G·琼森 ;

李琼 ;

H·利伯尔 ;

D·洛克 ;

T·恩古延 ;

P·M·里波利 ;

G·斯蒂弗柯维克 ;

H-C·S·孙 .

中国专利 :CN101689228A ,2010-03-31

[10]

用于健康监测系统的结构 [P].

S·C·查尔顿 ;

陈钧 ;

陈琳 ;

傅强 ;

I·郭弗曼 ;

S·B·哈里斯 ;

P·L·因曼 ;

G·琼森 ;

李琼 ;

H·利伯尔 ;

D·洛克 ;

T·恩古延 ;

P·M·里波利 ;

G·斯蒂弗柯维克 ;

H-C·S·孙 .

中国专利 :CN102841976A ,2012-12-26

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