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一种测试装置及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311863259.4
申请日
:
2023-12-29
公开(公告)号
:
CN117805588A
公开(公告)日
:
2024-04-02
发明(设计)人
:
余慧勤
李凌云
汪书娜
原蒲升
尤立星
申请人
:
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请人地址
:
200050 上海市长宁区长宁路865号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R1/04
代理机构
:
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
:
余明伟
法律状态
:
公开
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-02
公开
公开
2024-04-19
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231229
共 50 条
[1]
一种测试板及测试装置
[P].
刘佰春
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘佰春
.
中国专利
:CN206945874U
,2018-01-30
[2]
测试装置及测试方法
[P].
郭建超
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
郭建超
;
赵胜
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
赵胜
.
中国专利
:CN120407314B
,2025-09-02
[3]
测试方法及测试装置
[P].
孙小刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京谦合益邦云信息技术有限公司
北京谦合益邦云信息技术有限公司
孙小刚
;
张祥建
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京谦合益邦云信息技术有限公司
北京谦合益邦云信息技术有限公司
张祥建
.
中国专利
:CN120652251A
,2025-09-16
[4]
测试装置及测试方法
[P].
郭建超
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
郭建超
;
赵胜
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
赵胜
.
中国专利
:CN120407314A
,2025-08-01
[5]
测试装置及测试方法
[P].
李俊贤
论文数:
0
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0
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0
李俊贤
.
中国专利
:CN101038322A
,2007-09-19
[6]
一种CAF测试装置及测试方法
[P].
杨颖
论文数:
0
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0
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杨颖
;
梁朝辉
论文数:
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梁朝辉
;
周亮
论文数:
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周亮
;
洪瑛旭
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0
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洪瑛旭
;
吴报瑞
论文数:
0
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吴报瑞
;
陈泽坚
论文数:
0
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陈泽坚
;
方亮
论文数:
0
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0
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0
方亮
.
中国专利
:CN112034218A
,2020-12-04
[7]
一种芯片测试装置及测试方法
[P].
王稳稳
论文数:
0
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0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
王稳稳
.
中国专利
:CN118571298A
,2024-08-30
[8]
一种芯片测试装置、测试方法及测试板
[P].
曹巍
论文数:
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曹巍
;
周柯
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周柯
;
陈雷刚
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陈雷刚
;
高金德
论文数:
0
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0
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高金德
.
中国专利
:CN108614206B
,2018-10-02
[9]
一种CAF测试装置及测试方法
[P].
杨颖
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
杨颖
;
梁朝辉
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
梁朝辉
;
周亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
周亮
;
洪瑛旭
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
洪瑛旭
;
吴报瑞
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
吴报瑞
;
陈泽坚
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈泽坚
;
方亮
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
方亮
.
中国专利
:CN112034218B
,2024-04-05
[10]
一种弹簧测试装置及测试方法
[P].
戴子泷
论文数:
0
引用数:
0
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0
戴子泷
.
中国专利
:CN110455516A
,2019-11-15
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