一种测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311863259.4
申请日
2023-12-29
公开(公告)号
CN117805588A
公开(公告)日
2024-04-02
发明(设计)人
余慧勤 李凌云 汪书娜 原蒲升 尤立星
申请人
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请人地址
200050 上海市长宁区长宁路865号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
余明伟
法律状态
公开
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]
一种测试板及测试装置 [P]. 
刘佰春 .
中国专利 :CN206945874U ,2018-01-30
[2]
测试装置及测试方法 [P]. 
郭建超 ;
赵胜 .
中国专利 :CN120407314B ,2025-09-02
[3]
测试方法及测试装置 [P]. 
孙小刚 ;
张祥建 .
中国专利 :CN120652251A ,2025-09-16
[4]
测试装置及测试方法 [P]. 
郭建超 ;
赵胜 .
中国专利 :CN120407314A ,2025-08-01
[5]
测试装置及测试方法 [P]. 
李俊贤 .
中国专利 :CN101038322A ,2007-09-19
[6]
一种CAF测试装置及测试方法 [P]. 
杨颖 ;
梁朝辉 ;
周亮 ;
洪瑛旭 ;
吴报瑞 ;
陈泽坚 ;
方亮 .
中国专利 :CN112034218A ,2020-12-04
[7]
一种芯片测试装置及测试方法 [P]. 
王稳稳 .
中国专利 :CN118571298A ,2024-08-30
[8]
一种芯片测试装置、测试方法及测试板 [P]. 
曹巍 ;
周柯 ;
陈雷刚 ;
高金德 .
中国专利 :CN108614206B ,2018-10-02
[9]
一种CAF测试装置及测试方法 [P]. 
杨颖 ;
梁朝辉 ;
周亮 ;
洪瑛旭 ;
吴报瑞 ;
陈泽坚 ;
方亮 .
中国专利 :CN112034218B ,2024-04-05
[10]
一种弹簧测试装置及测试方法 [P]. 
戴子泷 .
中国专利 :CN110455516A ,2019-11-15