机床的位置测量传感器的校正值测量方法和校正值测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011188062.1
申请日
2020-10-30
公开(公告)号
CN112775718B
公开(公告)日
2024-05-14
发明(设计)人
神户礼士
申请人
大隈株式会社
申请人地址
日本爱知县
IPC主分类号
B23Q17/09
IPC分类号
B23Q17/22
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
邓毅;黄纶伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
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