抗压测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410234289.7
申请日
2024-03-01
公开(公告)号
CN118032499A
公开(公告)日
2024-05-14
发明(设计)人
张迎华 蒲嘉鹏 吴宝松 张猛
申请人
曙光信息产业股份有限公司 曙光信息产业(北京)有限公司
申请人地址
300000 天津市西青区华苑产业区(环外)海泰华科大街15号1-3层
IPC主分类号
G01N3/08
IPC分类号
G01N3/02 G01D21/02
代理机构
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
赖远龙
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P]. 
万欣 ;
宋国栋 ;
焦岩 .
中国专利 :CN119271542A ,2025-01-07
[2]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
周俊 .
中国专利 :CN118656296A ,2024-09-17
[3]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
刘明 ;
秦晓宁 ;
陈颖 ;
王添 .
中国专利 :CN118349406A ,2024-07-16
[4]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
席望 ;
刘伟 ;
叶王平 ;
梁慧慧 ;
唐建中 .
中国专利 :CN117930806A ,2024-04-26
[5]
性能测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
郝思敏 ;
秦晓宁 ;
陈颖 .
中国专利 :CN118409956A ,2024-07-30
[6]
测试装置、方法、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
齐浩 ;
陈宁 ;
张则民 ;
施文泽 .
中国专利 :CN114490208A ,2022-05-13
[7]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品 [P]. 
王浩天 ;
吴铭奖 .
中国专利 :CN118331871A ,2024-07-12
[8]
程序测试方法、装置、存储介质、计算机设备和程序产品 [P]. 
卢皓川 ;
熊婷 .
中国专利 :CN120571246A ,2025-09-02
[9]
设备测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
何米超 .
中国专利 :CN121233405A ,2025-12-30
[10]
测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P]. 
蒋超 ;
高正宇 ;
谢林洁 ;
陈剑 .
中国专利 :CN118193396A ,2024-06-14