应用测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311371249.9
申请日
2023-10-20
公开(公告)号
CN117573511A
公开(公告)日
2024-02-20
发明(设计)人
路清波 张星秋
申请人
北京乐柏软件开发有限公司
申请人地址
100040 北京市石景山区鲁谷东街8号一层159号
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京鼎承知识产权代理有限公司 11551
代理人
周娟
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451B ,2025-03-21
[2]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451A ,2021-07-30
[3]
应用测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
李秋林 ;
任星旺 .
中国专利 :CN112650670B ,2024-07-16
[4]
应用测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
李秋林 ;
任星旺 .
中国专利 :CN112650670A ,2021-04-13
[5]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
李媛媛 ;
刘刚 ;
杨帆 ;
于连照 ;
王轶凡 ;
张钋 .
中国专利 :CN115509909A ,2022-12-23
[6]
硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张权 .
中国专利 :CN117687850A ,2024-03-12
[7]
接口测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
许丹丹 ;
韩威 ;
夏劲伟 ;
刘忠明 .
中国专利 :CN113760697B ,2024-09-20
[8]
接口测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
许丹丹 ;
韩威 ;
夏劲伟 ;
刘忠明 .
中国专利 :CN113760697A ,2021-12-07
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘俊启 ;
谷铁峰 ;
姬路涛 .
中国专利 :CN115964277B ,2025-11-18
[10]
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘桐欢 .
中国专利 :CN113886271A ,2022-01-04