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一种芯片切割道检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322287420.X
申请日
:
2023-08-24
公开(公告)号
:
CN220381016U
公开(公告)日
:
2024-01-23
发明(设计)人
:
黄巧
宋扬
黄荣鑫
唐先武
邓仁陶
余攀
申请人
:
成都先进功率半导体股份有限公司
申请人地址
:
611731 四川省成都市高新西区科新路8-88号
IPC主分类号
:
G01N21/88
IPC分类号
:
G01N21/01
代理机构
:
四川力久律师事务所 51221
代理人
:
张迪
法律状态
:
授权
国省代码
:
四川省 成都市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-23
授权
授权
2025-08-15
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20230824授权公告日:20240123
共 50 条
[1]
一种芯片检测装置
[P].
宋成龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋成龙
.
中国专利
:CN218271931U
,2023-01-10
[2]
一种芯片检测装置
[P].
郑澎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑澎
;
罗旺宝
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗旺宝
;
郑曙涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑曙涛
;
莫树任
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
莫树任
.
中国专利
:CN212275892U
,2021-01-01
[3]
一种电子芯片检测装置
[P].
司桂芝
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
司桂芝
.
中国专利
:CN217360197U
,2022-09-02
[4]
一种电子芯片检测装置
[P].
曹满囤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹满囤
.
中国专利
:CN210534274U
,2020-05-15
[5]
一种芯片IO检测装置
[P].
王飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王飞
.
中国专利
:CN214750413U
,2021-11-16
[6]
一种芯片性能检测装置
[P].
石鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海骋川电子科技有限公司
上海骋川电子科技有限公司
石鹏
.
中国专利
:CN222050385U
,2024-11-22
[7]
一种芯片缺陷检测装置
[P].
陈帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州天资电子科技有限公司
苏州天资电子科技有限公司
陈帅
.
中国专利
:CN221377913U
,2024-07-19
[8]
一种便于芯片定位的芯片检测装置
[P].
杨恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨恒
.
中国专利
:CN218470918U
,2023-02-10
[9]
一种芯片检测用定位装置
[P].
王淑琴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王淑琴
.
中国专利
:CN212748989U
,2021-03-19
[10]
一种芯片防震强度检测装置
[P].
李玉溪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李玉溪
.
中国专利
:CN215492930U
,2022-01-11
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