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一种芯片三温测试设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311613888.1
申请日：
2023-11-29
公开(公告)号：
CN117554784A
公开(公告)日：
2024-02-13
发明(设计)人：
周鑫淼
李伟东
江建宇
申请人：
中山市博测达电子科技有限公司
申请人地址：
528400 广东省中山市坦洲镇坦神南路148号C栋5楼C区
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
珠海中知耕作知识产权代理事务所(普通合伙) 44841
代理人：
李伟
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省
中山市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-01 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231129 |
| 2024-07-09 | 授权 | 授权 |
| 2025-06-20 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:专利权人变更前:中山市博测达电子科技有限公司变更后:广东博测达科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:广东省中山市坦洲镇兴腾路32号A栋变更后:528400 广东省中山市坦洲镇兴腾路32号A栋 |
| 2024-02-13 | 公开 | 公开 |