用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711343130.5

申请日：

2017-12-14

公开(公告)号：

CN108168701B

公开(公告)日：

2024-04-12

发明(设计)人：

闫亚东何俊华许瑞华齐文博韦明智吴冰静

申请人：

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

IPC主分类号：

G01J3/42

IPC分类号：

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

陈广民

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-12	授权	授权

共 50 条

[1]

用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

许瑞华 ;

齐文博 ;

韦明智 ;

吴冰静 .

中国专利 :CN108168701A ,2018-06-15

[2]

用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

许瑞华 ;

齐文博 ;

韦明智 ;

吴冰静 .

中国专利 :CN207636185U ,2018-07-20

[3]

基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

许瑞华 ;

齐文博 ;

韦明智 ;

吴冰静 .

中国专利 :CN108168702A ,2018-06-15

[4]

基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

许瑞华 ;

齐文博 ;

韦明智 ;

吴冰静 .

中国专利 :CN207636186U ,2018-07-20

[5]

近背向散射光学测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

王维 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

张敏 .

中国专利 :CN108333147B ,2024-04-12

[6]

抗杂散光干扰的近背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

张敏 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

许瑞华 .

中国专利 :CN107991064B ,2024-01-30

[7]

抗杂散光干扰的近背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

张敏 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

许瑞华 .

中国专利 :CN107991064A ,2018-05-04

[8]

近背向散射光学测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

王维 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

张敏 .

中国专利 :CN108333147A ,2018-07-27

[9]

近背向散射光学测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

王维 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

张敏 .

中国专利 :CN207636486U ,2018-07-20

[10]

抗杂散光干扰的近背向散射光测量系统 [P].

闫亚东 ;

何俊华 ;

张敏 ;

韦明智 ;

薛艳博 ;

许瑞华 .

中国专利 :CN207636278U ,2018-07-20

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