闪存读干扰测试方法和系统、电子设备、存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN202310769605.6
申请日
2023-06-27
公开(公告)号
CN116913364B
公开(公告)日
2024-02-23
发明(设计)人
贺乐 赖鼐 龚晖
申请人
珠海妙存科技有限公司
申请人地址
519000 广东省珠海市横琴新区环岛北路2515号2单元2001
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
G06F11/22
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
林灿伟
法律状态
授权
国省代码
广东省 珠海市
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共 50 条
[1]
读干扰测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
李振华 ;
叶欣 ;
焦坦 .
中国专利 :CN112185453A ,2021-01-05
[2]
读干扰测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
李振华 ;
叶欣 ;
焦坦 .
中国专利 :CN112185453B ,2025-05-13
[3]
闪存芯片的读干扰测试方法、装置及可读存储介质 [P]. 
曹启鹏 ;
王卉 ;
王善屹 ;
胡剑 .
中国专利 :CN112017726A ,2020-12-01
[4]
闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质 [P]. 
贺乐 ;
赖鼐 ;
龚晖 .
中国专利 :CN116994635B ,2024-04-09
[5]
闪存读干扰的处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘军 .
中国专利 :CN117672331A ,2024-03-08
[6]
轨道信号电磁干扰测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
原志强 ;
傅雪军 ;
张佳峰 ;
高生岚 .
中国专利 :CN115494318A ,2022-12-20
[7]
轨道信号电磁干扰测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
原志强 ;
傅雪军 ;
张佳峰 ;
高生岚 .
中国专利 :CN115494318B ,2025-05-27
[8]
通讯干扰测试方法、装置、电子设备及系统 [P]. 
邓小更 ;
谭泽汉 ;
牛安 ;
林中虎 ;
熊光灿 ;
万泽超 ;
郭华定 ;
敖道满 ;
彭志富 ;
罗健 .
中国专利 :CN105281970A ,2016-01-27
[9]
读干扰优化方法、电子设备及存储介质 [P]. 
罗哲 .
中国专利 :CN120356505A ,2025-07-22
[10]
读干扰功能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
周建波 .
中国专利 :CN120048326A ,2025-05-27