交易测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011064622.2

申请日：

2020-09-30

公开(公告)号：

CN112419052B

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

孟令琦贺浩陈立芝

申请人：

中信百信银行股份有限公司

申请人地址：

100029 北京市朝阳区安定路5号院3号楼8层

IPC主分类号：

G06Q40/04

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

北京市兰台律师事务所 11354

代理人：

李浩;张峰

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

交易测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

孟令琦 ;

贺浩 ;

陈立芝 .

中国专利 :CN112419052A ,2021-02-26

[2]

交易测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石广学 ;

段宗海 .

中国专利 :CN113360375A ,2021-09-07

[3]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28

[4]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02

[5]

测试方法、装置、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN112822073A ,2021-05-18

[6]

接口测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

曹存凯 ;

杨全凯 ;

陈勇 ;

陈昊 ;

张纯庆 .

中国专利 :CN119201736A ,2024-12-27

[7]

软件测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

苏雅如 ;

王斯杰 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656286A ,2021-11-16

[8]

性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张明昊 .

中国专利 :CN115695227A ,2023-02-03

[9]

交易处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

唐坤 ;

李成才 ;

高勇 ;

邓柯 .

中国专利 :CN112037055A ,2020-12-04

[10]

交易处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张竣博 .

中国专利 :CN111833160A ,2020-10-27

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