产品测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311222470.8

申请日：

2023-09-21

公开(公告)号：

CN116957424B

公开(公告)日：

2024-01-19

发明(设计)人：

张云龙王麒伟陈见华

申请人：

立臻科技（昆山）有限公司

申请人地址：

215301 江苏省苏州市昆山市综合保税区第一大道168号

IPC主分类号：

G06Q10/0639

IPC分类号：

G06Q50/04 G06F16/903 G06F16/907 G07C3/14 G01D21/00

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

金武超

法律状态：

授权

国省代码：

天津市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-19	授权	授权
2024-07-09	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移IPC(主分类):G06Q 10/0639登记生效日:20240624变更事项:专利权人变更前权利人:立臻科技（昆山）有限公司变更后权利人:立臻控股（昆山）有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:215301 江苏省苏州市昆山市综合保税区第一大道168号变更后权利人:215300 江苏省苏州市昆山市开发区综合保税区第一大道168号

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质及产品 [P].

徐伟 ;

李运肖 .

中国专利 :CN118394627A ,2024-07-26

[2]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质及产品 [P].

潘雨晨 .

中国专利 :CN118689754A ,2024-09-24

[3]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质及产品 [P].

徐伟 ;

李运肖 .

中国专利 :CN118394627B ,2024-12-17

[4]

IT产品测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨燕平 ;

方国梁 ;

申宗杰 ;

龚舒 .

中国专利 :CN118820056A ,2024-10-22

[5]

测试方法、电子设备、可读存储介质及程序产品 [P].

王安 ;

张力心 .

中国专利 :CN118363864A ,2024-07-19

[6]

测试处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张浩 ;

代闯仁 ;

尹飞 .

中国专利 :CN111949510A ,2020-11-17

[7]

测试处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张浩 ;

代闯仁 ;

尹飞 .

中国专利 :CN111949510B ,2024-05-14

[8]

测试方法、装置、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

崔正浩 ;

金凌 ;

刘伟东 ;

王蕊 ;

梁孔明 ;

马占宇 ;

张如许 .

中国专利 :CN118796629A ,2024-10-18

[9]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

问王博 .

中国专利 :CN117452918A ,2024-01-26

[10]

测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

黄燊 ;

庄镇铭 ;

詹灯辉 ;

张文智 ;

梁华文 .

中国专利 :CN117408016A ,2024-01-16

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