X射线检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880081884.4

申请日：

2018-12-14

公开(公告)号：

CN111492268B

公开(公告)日：

2024-01-09

发明(设计)人：

拉尔斯·赫恩斯多尔夫

申请人：

RTI集团公司

申请人地址：

瑞典默恩达尔

IPC主分类号：

G01T1/02

IPC分类号：

代理机构：

北京德琦知识产权代理有限公司 11018

代理人：

刘钊;周艳玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-09	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线检测装置 [P].

拉尔斯·赫恩斯多尔夫 .

中国专利 :CN111492268A ,2020-08-04

[2]

处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置 [P].

山河勉 ;

山本修一郎 ;

冈田雅宏 .

日本专利 :CN110770607B ,2024-02-13

[3]

处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置 [P].

山河勉 ;

山本修一郎 ;

冈田雅宏 .

中国专利 :CN110770607A ,2020-02-07

[4]

X射线检测子模、X射线检测模块以及X射线CT装置 [P].

桥本笃 ;

西岛辉 ;

南部修也 ;

工藤洋二 ;

山崎正彦 ;

浅田朋范 .

中国专利 :CN104023641A ,2014-09-03

[5]

X射线检测装置 [P].

袁石磊 .

中国专利 :CN117665952A ,2024-03-08

[6]

X射线检测装置 [P].

拉尔斯·赫恩斯多夫 ;

比约恩·塞德奎斯特 ;

托马斯·本特松 .

中国专利 :CN102460212A ,2012-05-16

[7]

X射线检测装置 [P].

陆志文 ;

彭宁嵩 ;

吴家荣 ;

姜鑫东 .

中国专利 :CN202101952U ,2012-01-04

[8]

X射线检测装置 [P].

刘骏 ;

王鹏涛 ;

赵勇 ;

辛晨 ;

郭俊峰 ;

杨龙 .

中国专利 :CN205002749U ,2016-01-27

[9]

X射线检测装置 [P].

袁石磊 .

中国专利 :CN221883921U ,2024-10-22

[10]

X射线检测装置 [P].

袁石磊 .

中国专利 :CN308776006S ,2024-08-09

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