一种实现自动增益切换的X射线影像探测器及其方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811525743.5

申请日：

2018-12-13

公开(公告)号：

CN109521455B

公开(公告)日：

2024-02-27

发明(设计)人：

崔志立魏青

申请人：

北京纳米维景科技有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区北清路68号院1号楼一层1-06

IPC主分类号：

G01T1/02

IPC分类号：

A61B6/42

代理机构：

北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381

代理人：

陈曦;任佳

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种实现自动增益切换的X射线影像探测器 [P].

崔志立 ;

魏青 .

中国专利 :CN209928024U ,2020-01-10

[2]

一种实现自动增益切换的X射线影像探测器及其方法 [P].

崔志立 ;

魏青 .

中国专利 :CN109521455A ,2019-03-26

[3]

可实现自动增益切换的X射线影像探测设备 [P].

张艳平 ;

鲍永翼 .

中国专利 :CN215959930U ,2022-03-08

[4]

一种X射线探测器及其利用探测器实现X射线成像的方法 [P].

粱桂秋 .

中国专利 :CN101477204A ,2009-07-08

[5]

直接型X射线影像探测器及其制备方法 [P].

薛冬峰 ;

李云龙 ;

陈慧雯 ;

王晓明 .

中国专利 :CN114252031B ,2022-03-29

[6]

X射线/质子影像探测器 [P].

徐榭 ;

黄慧 ;

韩滨 ;

徐开文 .

中国专利 :CN202270031U ,2012-06-13

[7]

一种X射线探测器、制备方法及其应用 [P].

钟韬 ;

秦文辉 ;

余肖鹏 ;

赖晓春 .

中国专利 :CN115207140B ,2024-03-08

[8]

光子计数X射线探测器和运行光子计数X射线探测器的方法 [P].

E·格德雷 ;

M·胡普费尔 ;

B·克赖斯勒 ;

M·彼得希尔卡 .

中国专利 :CN112998728A ,2021-06-22

[9]

光子计数X射线探测器和运行光子计数X射线探测器的方法 [P].

E·格德雷 ;

M·胡普费尔 ;

B·克赖斯勒 ;

M·彼得希尔卡 .

德国专利 :CN112998728B ,2025-01-21

[10]

X射线探测器及其制造方法 [P].

袁大洋 ;

张宏业 .

中国专利 :CN106618617A ,2017-05-10

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