一种芯片外观缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311701359.7

申请日：

2023-12-11

公开(公告)号：

CN117745660A

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

黄瑾烨蔡伟洋韦锦星孙婷胡海鹏李春莲

申请人：

硅能光电半导体(广州)有限公司

申请人地址：

510700 广东省广州市黄埔区开源大道11号A2栋101室、A4栋201室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/762 G06T5/90

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

丁银泽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省广州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231211
2024-03-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种水泵叶轮外观缺陷检测方法及系统 [P].

潘文仓 ;

杜宏录 ;

马云祥 ;

高燕 ;

闫小文 .

中国专利 :CN117911402A ,2024-04-19

[2]

一种水泵叶轮外观缺陷检测方法及系统 [P].

潘文仓 ;

杜宏录 ;

马云祥 ;

高燕 ;

闫小文 .

中国专利 :CN117911402B ,2024-05-31

[3]

一种基于深度学习的钢珠外观缺陷检测方法及系统 [P].

谷伟楠 ;

杨锐 ;

李永智 ;

陈子露 ;

刘培培 ;

胡皓然 .

中国专利 :CN120876489A ,2025-10-31

[4]

一种芯片位置缺陷检测方法及系统 [P].

黄瑾烨 ;

蔡伟洋 ;

韦锦星 ;

孙婷 ;

胡海鹏 ;

李春莲 .

中国专利 :CN117745659A ,2024-03-22

[5]

一种芯片外观缺陷检测方法 [P].

仝敬烁 ;

姜红亮 ;

薛伟 ;

胡洪 ;

谢美奇 ;

朱伟杰 ;

仝浩杰 .

中国专利 :CN120411002A ,2025-08-01

[6]

一种芯片外观缺陷检测方法及检测装置 [P].

庄晓鹏 .

中国专利 :CN117890380B ,2024-05-14

[7]

一种芯片外观缺陷检测方法及检测装置 [P].

庄晓鹏 .

中国专利 :CN117890380A ,2024-04-16

[8]

一种化成箔的外观缺陷检测方法及系统 [P].

陈小兵 ;

李晓天 ;

包志刚 .

中国专利 :CN118501177A ,2024-08-16

[9]

一种化成箔的外观缺陷检测方法及系统 [P].

陈小兵 ;

李晓天 ;

包志刚 .

中国专利 :CN118501177B ,2024-11-19

[10]

一种小样本芯片外观缺陷检测方法及系统 [P].

陈俊风 ;

陈俊杰 ;

梁文政 ;

杜静静 .

中国专利 :CN118396937A ,2024-07-26

← 1 2 3 4 5 →